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具有硅通孔的半导体芯片构造及其堆叠组合专利

发布时间:2026-06-20

【摘要】 本发明提供一种具有硅通孔的半导体芯片构造及其堆叠组合,两个或两个以上通孔垂直贯穿在半导体基板的上下表面的焊垫;两个或两个以上第一凸缘环突出地设置于这些位在该半导体基板上表面的焊垫上,以使其对应焊垫具有接触表面,其位于这些第一凸缘环与这些通孔之间;两个或两个以上第二凸缘环突出地设置于这些位在该半导体基板下表面的焊垫上,以使其对应焊垫具有接触表面,其围绕在这些第二凸缘环之外;第二凸缘环具有可嵌入于第一凸缘环的尺寸。利用凸缘环的上下嵌合,可实现芯片准确对位及避免位移,并可实现一种可先芯片堆叠再将填孔物质填入通孔的芯片堆叠工艺,填孔物质不会溢流而无邻接通孔电性短路的问题,符合硅通孔微间距的要求。 【专利类型】发明授权 【申请人】力成科技股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾新竹县湖口乡新竹工业区大同路26号 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810006591.8 【申请日】2008-03-13 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101533811B 【公开公告日】2010-10-20 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101533811B 【授权公告日】2010-10-20 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】H01L23/482; H01L23/544; H01L25/00; H01L23/48 【发明人】陈酩尧 【主权项内容】微信 一种具有硅通孔的半导体芯片构造,其特征在于,所述半导体芯片构造包含:半导体基板,具有第一表面、相对的第二表面以及两个或两个以上贯穿该第一表面与该第二表面的通孔;两个或两个以上第一焊垫,设置于该第一表面;两个或两个以上第二焊垫,设置于该第二表面,其中所述通孔还贯穿垂直对应所述第一焊垫与第二焊垫;两个或两个以上第一凸缘环,突出地设置于该第一焊垫,并使对应的第一焊垫具有第一接触表面,该第一接触表面外露于该第一表面并位于该第一凸缘环与所述通孔之间;两个或两个以上第二凸缘环,突出地设置于所述第二焊垫,并使对应的第二焊垫具有第二接触表面,第二接触表面外露于该第二表面并围绕在该第二凸缘环之外,其中该第二凸缘环具有可嵌入于该第一凸缘环的尺寸;孔金属层,其形成于所述通孔内,并电性连接所述第一焊垫与对应的第二焊垫;以及填孔物质,其填入于所述通孔。 【当前权利人】力成科技股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾新竹县湖口乡新竹工业区大同路26号 【引证次数】2.0 【被引证次数】1 【他引次数】2.0 【被他引次数】1.0 【家族引证次数】2.0 【家族被引证次数】21

  • 【摘要】本发明是有关一种将富含硅杂质的氢氧化钾水溶液纯化的方法,尤指一 种利用低碳醇(例如乙醇)萃取该氢氧化钾水溶液的方法,包括以低碳醇和 富含硅杂质的氢氧化钾水溶液混合,使其分成水相层及含硅杂质降低的氢氧 化钾水溶液的低碳醇相层,该低碳醇
  • 【摘要】 本发明为一种具有内嵌电阻式触控结构的液晶显示器,是在一薄膜晶体管阵列基板与一对向电极基板之间设置一液晶层,多条第一检测线是与薄膜晶体管阵列基板的栅极线经同一道工艺制得,且平行栅极线设置,多条第二检测线则是与薄膜晶体管阵列基板的源极
  • 【摘要】一种硬度测试装置及其操作方法。硬度测试装置用以测定薄膜的硬度。硬度测试装置包括基座、平台及数组控笔机构。平台可滑动地设置于基座并用以放置薄膜。控笔机构可动地设置于基座且控笔机构是固接在一起的。每一组控笔机构包括置笔元件、套筒及横向齿
  • 【摘要】本发明是有关于吊扇无刷马达的动态性负载及功率限定转速控制方 法及其电路,其方法为启动时,先以定功率方式为主轴,一中央处理单元 开始增加能量的输出,同时一马达消耗功率取样单元及一马达转速取样单 元也会不断的将信号传给中央处理单元以判断
  • 【摘要】本发明提供一有机化合物及包含其的有机电致发光装置。该有机化合物 具右下所示的化学式: 其中,R1及R2是分别为相同或不同的取代基,包含芳香基、杂芳基、环 烷基、杂环基、或环脂基,或者R1及R2连接在一起而与其所连接的碳原子 共同形成
  • 【摘要】本发明为一种具有形状记忆合金的动作装置,该动作装置包含一底座;至少一第一磁性元件,设于底座的底部;一载体;至少一第二磁性元件,设于载体的顶部且与第一磁性元件对应设置;以及一形状记忆合金,置于底座及载体间,且具有至少一可变形扬升的支撑