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硬度测试装置及其操作方法专利

发布时间:2026-06-19

【摘要】 一种硬度测试装置及其操作方法。硬度测试装置用以测定薄膜的硬度。硬度测试装置包括基座、平台及数组控笔机构。平台可滑动地设置于基座并用以放置薄膜。控笔机构可动地设置于基座且控笔机构是固接在一起的。每一组控笔机构包括置笔元件、套筒及横向齿轮。置笔元件具有贯穿孔。套筒可转动地设置于贯穿孔并用以容置铅笔,而横向齿轮则固接于套筒。其中,当操作控笔机构之一时,其余的控笔机构连动,以使每一铅笔的笔头接触薄膜。而相邻的横向齿轮互相嵌合,当转动横向齿轮其中一者时,所有的铅笔均同步转动。 【专利类型】发明申请 【申请人】达信科技股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾桃园县 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810187871.3 【申请日】2008-12-22 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101750257A 【公开公告日】2010-06-23 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101750257B 【授权公告日】2012-05-30 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G01N3/40 【发明人】林士斌; 邱雅琴; 陈铭慧; 廖丽美; 翁畅健; 陈庆松 【主权项内容】一种硬度测试装置,用以测定薄膜的硬度,所述硬度测试装置包括:基座;平台,可滑动地设置于所述基座并用以放置所述薄膜;以及多个组控笔机构,所述控笔机构可动地设置于所述基座且相邻的所述些控笔机构固接在一起,所述各控笔机构包括:置笔元件,具有第一上表面、下表面及贯穿孔,所述贯穿孔由所述第一上表面贯穿至所述下表面;套筒,可转动地设置于所述贯穿孔并用以容置铅笔;及横向齿轮,固接于所述套筒;其中,相邻的所述横向齿轮互相嵌合,当转动所述横向齿轮之一时,所述横向齿轮的其余的横向齿轮同步转动;其中,当操作所述控笔机构之一时,所述控笔机构的其余控笔机构连动,以使各所述铅笔的笔头接触所述薄膜。 【当前权利人】明基材料股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾桃园市龟山区建国东路29号 【被引证次数】7 【被他引次数】7.0 【家族引证次数】5.0 【家族被引证次数】7

  • 【摘要】一种固定构件,用以令散热器固设于机壳内的电路板上,并且散热器贴合于电路板的发热组件。固定构件包括有设置于电路板的固定座及枢设于机壳侧板的固持件,当固持件朝固定座的方向转动,由固持件的组扣部扣合于固定座的卡扣件,令散热器贴合于发热组件
  • 【摘要】一种精密型印刷电路板测试治具,其包括:一检测管,具有一中空容室, 该中空容室内设有一第二弹性件,该检测管电连接有一第二检测线;一第二检 测件,设于该检测管的该中空容室内,该第二检测件设有一第二容室及开口, 该第二检测件受该第二弹性件
  • 【摘要】用于检测一非易失式存储器的相邻区块干扰现象的检测方法,包含有在一第一时间点,逐一擦除及写入一测试数据至该非易失式存储器中多个待测区块的每一区块;根据该多个待测区块的每一区块所包含的一序号,将该多个待测区块归属于一第一区块群及一第二区
  • 【摘要】本发明关于光源控制电路与方法及应用其的影像显示装置与照明设备。在发光二极管控制中,以存储器映像方式,来将多个责任周期信号(其相对于多个发光二极管)储存于一双端口存储器中。依照取样时间的取样,输出所储存的所述责任周期信号,藉以产生并列
  • 【摘要】本发明涉及液晶显示器与背光模组。一种背光模组包括一背板、一电路 板与多个发光二极管。其中,电路板配置于背板内,且电路板的边缘具有多 个凹陷部。此外,发光二极管配置于电路板的凹陷部中。【专利类型】发明申请【申请人】奇美电子股份有限公司
  • 【摘要】本发明揭露了一种半导体芯片封装,包括:具有底面的封装基板。于底面的至少四个相邻球焊盘,配置于沿着第一方向以及第二方向的第一两行阵列。至少四个通孔,通过封装基板钻孔,配置为第二两行阵列,其中第二两行阵列的一行的多个通孔中的每一个,由第