【摘要】 用于检测一非易失式存储器的相邻区块干扰现象的检测方法，包含有在一第一时间点，逐一擦除及写入一测试数据至该非易失式存储器中多个待测区块的每一区块；根据该多个待测区块的每一区块所包含的一序号，将该多个待测区块归属于一第一区块群及一第二区块群；在一第二时间点，读取该第一区块群的每一区块所存储的数据，并检查是否与该第一时间点所写入的测试数据相符合，以产生一第一检查结果；以及根据该第一检查结果，判断该第一区块群的每一区块的有效性。 【专利类型】发明申请 【申请人】联咏科技股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾新竹科学工业园区 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810190372.X 【申请日】2008-12-31 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101770813A 【公开公告日】2010-07-07 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101770813B 【授权公告日】2013-01-02 【授权公告年份】2013.0 【IPC分类号】G11C29/04 【发明人】王政斌 【主权项内容】一种用于检测一非易失式存储器的一相邻区块干扰现象的检测方法，包含有：在一第一时间点，逐一擦除及写入一测试数据至该非易失式存储器中多个待测区块的每一区块；根据该多个待测区块的每一区块所包含的一序号，将该多个待测区块归属于一第一区块群及一第二区块群；在一第二时间点，读取该第一区块群的每一区块所存储的数据，并检查是否与该第一时间点所写入的测试数据相符合，以产生一第一检查结果；以及根据该第一检查结果，判断该第一区块群的每一区块的有效性。。 【当前权利人】联咏科技股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾新竹县 【被引证次数】8 【被他引次数】8.0 【家族引证次数】4.0 【家族被引证次数】8
