【摘要】 本发明公开了利用模拟信号进行装置中扫描链测试的方法与系统。至少一个实施例描述了利用模拟信号进行装置中扫描链测试的方法，该方法包括：从测试模块传送数字输入信号至信号分解器，该信号分解器用于将该数字输入信号划分成与每个数字输入信号对应的位；传送所述位至数字至模拟转换器，该数字至模拟转换器用于产生模拟输入信号；传送该模拟输入信号至该受测试装置中的模拟至数字转换器，以获得与每个所述数字输入信号对应的位；传送所述位至该受测试装置中的扫描链作为输入；以及利用所述位通过所述扫描链测试该受测试装置。本发明所述方法使得在给定装置中执行扫描链测试所需的硬件数量大大减少，同时仍保持同样水平的测试容量。 【专利类型】发明授权 【申请人】威盛电子股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾台北县 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810003111.2 【申请日】2008-01-10 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101201389B 【公开公告日】2010-11-24 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101201389B 【授权公告日】2010-11-24 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01R31/28; G01R31/317; G01R31/3183 【发明人】余大伟 【主权项内容】一种利用模拟信号对受测试装置进行扫描链测试的方法，包括：从测试模块传送多个数字输入信号至信号分解器，该信号分解器用于将该多个数字输入信号划分成与该多个数字输入信号中每一个对应的多个位；传送该多个位至数字至模拟转换器，该数字至模拟转换器用于产生模拟输入信号；传送该模拟输入信号至该受测试装置中的模拟至数字转换器，以获得与该多个数字输入信号中每一个对应的多个位；传送该多个位至该受测试装置中的多个扫描链作为输入信号；以及利用该多个位通过该多个扫描链来测试该受测试装置。 【当前权利人】威盛电子股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾台北县 【家族引证次数】12.0 【家族被引证次数】18
