【摘要】 本发明提供了一种电容测量电路及其电容测量方法。电容测量电路用以测量待测电容。电容测量电路包括电容转时间单元、连续时间积分器及模拟数字转换器。电容转时间单元根据待测电容的第一充电时间及可调变电容的第二充电时间产生彼此互为反相的第一时脉信号及第二时脉信号。连续时间积分器接收第一时脉信号，并根据第一时脉信号输出积分信号。当第二时脉信号的时脉个数等于默认值时，模拟数字转换器根据积分信号输出与待测电容及可调变电容的差异值相关的数字信号。 【专利类型】发明申请 【申请人】瑞鼎科技股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾新竹市 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810177628.3 【申请日】2008-11-17 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101738544A 【公开公告日】2010-06-16 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101738544B 【授权公告日】2012-08-22 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G01R27/26 【发明人】光宇 【主权项内容】一种电容测量电路，用以测量待测电容，包括：电容转时间单元，用以根据该待测电容的第一充电时间及可调变电容的第二充电时间产生彼此互为反相的第一时脉信号及第二时脉信号；连续时间积分器，用以接收所述第一时脉信号，并根据所述第一时脉信号输出积分信号；以及模拟数字转换器，当所述第二时脉信号的时脉个数等于默认值时，根据所述积分信号输出与所述待测电容及所述可调变电容的差异值相关的数字信号。 【当前权利人】瑞鼎科技股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾新竹市 【被引证次数】28 【被他引次数】28.0 【家族引证次数】9.0 【家族被引证次数】29
