【摘要】 本发明涉及一种现场可编程门阵列(FPGA)的测试方法，包括：获取现场可编程门阵列的初始设计网表和初始设计配置；采用逻辑函数的异或功能替换所述初始设计网表和初始设计配置的查找表单元的功能，得到初始测试网表和初始测试配置；基于可测性分析方法的预置规则，选择所述初始测试网表的观察节点，并获取测试网表和相应的测试向量；配置所述观察节点到所述初始测试配置的输出输入单元的输出端，得到测试配置；以及依据配置器件的激励信号，连接所述测试配置至配置器件，获得所述测试向量的输出逻辑值；分析所述输出逻辑值与所述测试向量的响应值，获得测试结果；该方法能够有效检测FPGA芯片在应用设计时所使用到的互连线的固定故障。 【专利类型】发明授权 【申请人】北京大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100871 北京市海淀区颐和园路5号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810227979.0 【申请日】2008-12-03 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101413990B 【公开公告日】2010-09-08 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101413990B 【授权公告日】2010-09-08 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01R31/3185 【发明人】冯建华; 林腾; 徐文华; 王阳元 【主权项内容】一种现场可编程门阵列的测试方法，其特征在于，包括：获取现场可编程门阵列的初始设计网表和初始设计配置；采用逻辑函数的异或功能替换所述初始设计网表和初始设计配置的查找表单元的功能，得到初始测试网表和初始测试配置；依据可测性分析方法的预置规则，选择所述初始测试网表的观察节点，基于所述观察节点获取测试网表和相应的测试向量；配置所述观察节点到所述初始测试配置的输出输入单元的输出端，得到测试配置；以及依据配置器件的激励信号，连接所述测试配置至配置器件，获得所述测试向量的输出逻辑值；分析所述输出逻辑值与所述测试向量的响应值，获得测试结果。 （，） 【当前权利人】无锡引速得科技有限公司 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】12100000400002259P 【引证次数】4.0 【他引次数】4.0 【家族引证次数】4.0 【家族被引证次数】25
