【摘要】 本发明涉及一种测量光波粒二象性的装置，实现对光波粒二象性的验证和观察。提出了 一种结构简单、易于构建、抗干扰性强、易于观察测量结果的光波粒二象性的观测装置。该 装置由单光子源、光环型器、X型光分路/合路器依次连接构成，另外再配以两个单光子探测 计数器。其物理基础是：测量粒子性时，利用了光子经X型光分路/合路器时的路径随机选择 特性，突出显示经典粒子运动轨道、轨迹的特征；测量波动性时，利用了Sagnac干涉仪，光 子在X型光分路/合路器再次相遇时的叠加特性，突出显示经典波的干涉特征。 【专利类型】发明授权 【申请人】北京邮电大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100876北京市海淀区西土城路10号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810114201.9 【申请日】2008-06-02 【申请年份】2008 【公开公告号】CN100587423C 【公开公告日】2010-02-03 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN100587423C 【授权公告日】2010-02-03 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01J11/00 【发明人】马海强; 于丽 【主权项内容】1.全光纤型光波粒二象性测量装置其特征在于：包括依次连接的单光子源1、光环 型器2、X型光分路/合路器3。其中单光子源1的输出端连接光环型器2的同向输入端2a； 光环型器2的同向输出端2b连接X型光分路/合路器3的尾纤输入端口3a；光环型器2 的反向输出端2c、X型光分路/合路器3的与尾纤输入端口3a同侧的另一尾纤端口3b可 同时悬空，也可同时分别连接单光子探测计数器A、B；X型光分路/合路器3的尾纤输出 端口3c、3d可同时分别连接单光子探测计数器A、B，也可直接相连接。 【当前权利人】北京邮电大学 【当前专利权人地址】北京市海淀区西土城路10号 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】12100000400009952C 【引证次数】2.0 【他引次数】2.0 【家族引证次数】2.0 【家族被引证次数】4
