【摘要】 本发明公开了一种电磁辐射敏感度自动测试中信号源幅度初值设定方法。所述方法根据天线系数计算关系式以及第一个测试频点相关物理量计算出在该频点辐射天线的天线系数;再根据信号源幅度初值参考值计算式以及第一个测试频点辐射天线的天线系数、测试标准规定的第二个测试频点对应的电磁辐射场强度、功率放大器当前增益、第二个测试频点测试线缆及测试回路造成的损耗,计算出信号源幅度初值参考值。以此幅度为基准,下调小量级的幅度作为当前信号源幅度初值。在相同的幅度调整方案下,该初值设定方法能够有效提高测试效率。 : 【专利类型】发明授权 【申请人】北京航空航天大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100083 北京市海淀区学院路37号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810119634.3 【申请日】2008-09-04 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101349730B 【公开公告日】2010-12-15 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101349730B 【授权公告日】2010-12-15 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01R31/00 【发明人】戴飞; 谢树果; 曹景阳; 苏东林; 宋振飞; 曹成 【主权项内容】一种电磁辐射敏感度自动测试中信号源幅度初值设定方法,其特征在于包括如下步骤:步骤一:对于第一个测试频点f0,设置信号源幅度初值U00,在此基础上按照某种现有幅度调整方案调整信号源幅度,使得监测设备测量值达到测试标准规定的第一个测试频点f0的极限值Vlim0,记录此时信号源幅度U0;步骤二:根据天线系数计算关系式以及第一个测试频点f0的相关物理量,计算出第一个测试频点f0辐射天线的天线系数AFT;天线系数计算关系式为:AFT=Vlim0‑U0‑Gain+Loss0,式中:AFT表示第一个测试频点f0辐射天线的天线系数,单位dB/m,Vlim0表示测试标准规定的第一个测试频点f0的极限值,单位dBuV/m,U0表示监测设备测量值达到测试标准规定的第一个测试频点f0的极限值Vlim0时信号源幅度,单位dBuV,Gain表示功率放大器当前增益,单位dB,Loss0表示在第一个测试频点f0,测试线缆及测试回路造成的损耗,单位dB;其中Loss0、Gain、U0、Vlim0都已知;步骤三:根据信号源幅度初值参考值计算式以及第二个测试频点f1的相关物理量、第一个测试频点f0辐射天线的天线系数AFT,计算出第二个测试频点f1信号源幅度初值参考值U1;信号源幅度初值参考值计算式为:U1=Vlim1‑Gain‑AFT+Loss1,式中:U1表示第二个测试频点f1信号源幅度初值参考值,单位dBuV;AFT表示第一个测试频点f0辐射天线的天线系数,单位dB/m;Vlim1表示测试标准规定的第二个测试频点f1对应的电磁辐射场强度,单位dBuV/m;Gain表示功率放大器当前增益,单位dB;Loss1表示第二个测试频点f1测试线缆及测试回路造成的损耗,单位dB;其中Vlim1、Loss1、Gain已知;步骤四:获得第二个测试频点f1信号源幅度初值U10=U1‑Δ,式中Δ是为了最终调整的准确性设置的一个常数,取值范围为2~6dB;步骤五:按照某种现有幅度调整方案,逐步调整信号幅度,使得监测设备测量值达到测试标准规定的第二个测试频点f1对应的电磁辐射场强度Vlim1;步骤六:依次类推,重复步骤二到步骤五,最终完成全频段测试。。 【当前权利人】北京航空航天大学 【当前专利权人地址】北京市海淀区学院路37号 【统一社会信用代码】12100000400011227Y 【家族被引证次数】12