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阵列基板和液晶显示装置专利

发布时间:2026-06-11

【摘要】 本发明涉及一种阵列基板和液晶显示装置。该阵列基板包括衬底基板、液晶像素电极、数据线和挡光条等,在数据线的两侧还设置有折射条,位于挡光条和数据线之间的间隙上方,且与液晶像素电极同层设置;该折射条用于偏转经折射条射出的光线朝向数据线方向射出。该液晶显示装置采用本发明的阵列基板。本发明采用在挡光条与数据线之间的间隙的位置所对应的像素电极层中设置折射条的技术手段,使得从间隙中漏出的光线经折射条的折射后改变方向,向数据线一侧偏转。当面板受力弯曲时,从黑矩阵偏移错开缝隙中漏出的光线明显减少,因此能够减轻图像显示中因漏光出现的水波纹现象,改善了显示效果。 【专利类型】发明授权 【申请人】北京京东方光电科技有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100176 北京市经济技术开发区西环中路8号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】朝阳区 【申请号】CN200810101547.5 【申请日】2008-03-07 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101526708B 【公开公告日】2010-09-22 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101526708B 【授权公告日】2010-09-22 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G02F1/1362 【发明人】崔贤植 【主权项内容】一种阵列基板,包括衬底基板及设置在所述衬底基板上的液晶像素电极、数据线、挡光条、栅极扫描线和薄膜晶体管开关元件,所述挡光条设置在所述数据线的两侧,其特征在于:在所述数据线两侧分别设置有折射条,所述折射条位于所述挡光条与所述数据线之间的间隙位置上方,且所述折射条与所述液晶像素电极同层设置;所述折射条的折射率大于衬底基板材料和液晶层材料的折射率,且折射条横截面宽度递变,横截面宽度较大的一边朝向数据线,或者所述折射条的折射率小于衬底基板材料和液晶层材料的折射率,且折射条横截面宽度递变,横截面宽度较大的一边背离数据线,用于偏转经所述折射条射出至液晶层的光线朝向所述数据线方向射出。 【当前权利人】高创(苏州)电子有限公司; 京东方科技集团股份有限公司 【当前专利权人地址】江苏省苏州市吴江经济技术开发区大兢路1088号; 北京市朝阳区酒仙桥路10号 【专利权人类型】有限责任公司(台港澳与境内合资) 【统一社会信用代码】911103027493533932 【引证次数】4.0 【被引证次数】2 【自引次数】1.0 【他引次数】3.0 【被自引次数】2.0 【家族引证次数】11.0 【家族被引证次数】31

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  • 【摘要】本发明公开了一种利用声表面波器件测试气体浓度的方法,利用声表面波气体传感器在吸附被测气体前后,声表面波在其上传播速度的不同,来定量得到被测气体的浓度。其主要步骤为:使用信号发生器在双端对声表面波气体传感器一侧发射一短脉冲信号,并用示
  • 【摘要】本发明涉及一种卤化镁加合物,如通式(I)MgX2-mROH-kE-pF-qH2O所 示,式中X为氯或溴,R为C1~C12烷基、C3~C10环烷基或C6~C10芳基;E 为通式(II)所示的C,C-二烃氧基烃化合物;F为通式(III)
  • 【摘要】本发明涉及装订机错帖在线快速图像检测方法,特别是涉及采用基于多特征图像处理技术在线自动检测装订机工作过程中存在的错帖的方法。该方法主要包括以下步骤:设置模板图像剪切区域,计算模板剪切图像的数学特征向量,对被测图像划分子图像,计算相似
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  • 【摘要】本发明涉及一种在扫描电子显微镜中对待测微型元件进行电学测量的装 置,具体为一种扫描电子显微镜原位电学测量装置,属于纳米材料性能原位 测量领域。包括有支撑部分和电路部分,所述的支撑部分为绝缘衬底(1), 所述的电路部分包括两个固定在绝