【摘要】 本发明提供一种触控装置的触控位置感测方法，所述方法以一预设扫描感测模式，经由控制电路对第一及第二导电层进行驱动及扫描感测。感测到触控板受触压操作时，判别触控板受触压操作的类型：包括单点触压、连续轨迹输入或多点触压，分别以对应的第一或第二操作模式对触控板的第一导电层及第二导电层进行驱动及扫描感测，以感测触压点或连续轨迹输入的坐标位置。 【专利类型】发明申请 【申请人】宸鸿光电科技股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾台北市大安区仁爱路三段136号14楼 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810169038.6 【申请日】2008-10-14 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101727253A 【公开公告日】2010-06-09 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101727253B 【授权公告日】2012-03-21 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G06F3/045; G06F3/041 【发明人】刘振宇; 林俊基 【主权项内容】一种触控装置的触控位置感测方法，其特征在于，所述方法是在一触控板包括有一第一导电层及一第二导电层，其中所述第一导电层是一连续平面结构，形成在一第一基板，具有第一端及第二端，所述第二导电层是由多个导电长条所组成，形成在一第二基板，各导电长条彼此平行且不相接触，各导电长条具有第一端及第二端，所述第一基板与第二基板的间隔有多个绝缘隔点，一控制电路连接于所述第一导电层及所述第二导电层，一微控器连接于所述控制电路，所述方法包括下列步骤：(a)所述微控器以一预设扫描感测模式，经由所述控制电路对所述第一导电层及所述第二导电层进行驱动及扫描感测；(b)当感测到所述触控板受触压操作时，判别所述触控板受触压的类型为多点触压、连续轨迹输入或单点触压；(c)当判别所述触压操作的类型为单点触压或多点触压时，所述微控器以第一操作模式对所述触控板的第一导电层及所述第二导电层进行驱动及扫描感测，以感测所述触压的坐标位置；(d)当判别所述触压操作的类型为连续轨迹输入时，所述微控器以第二操作模式对所述触控板的第一导电层及所述第二导电层进行驱动及扫描感测，以感测所述连续轨迹输入的坐标位置；(e)判别所述触控板是否在一预定时间值内仍受触压操作；(f)若所述触控板仍受触压，则回到步骤(a)。 【当前权利人】宸鸿光电科技股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾台北市大安区仁爱路三段136号14楼 【引证次数】3.0 【被引证次数】5 【他引次数】3.0 【被他引次数】5.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】6
