【摘要】 本发明提供一电池保护IC，该电池保护IC使用充电控制接脚Cout作为 IC测试(CP或FT测试)时使用，以减少延迟时间，该电池保护IC具有一延迟 时间控制电路、一比较器以及一信号延迟选择器，该比较器具有一负输入端、 一正输入端以及一输出端，该负输入端与VCC相连接，该正输入端与该Cout 接脚相连接，该输出端与该信号延迟选择器相连接；为了执行上述的测试， 加入一电压源以触发该短延迟时间模块，而非触发一常规延迟时间模块。 【专利类型】发明申请 【申请人】新德科技股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】台湾省新竹县 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810131389.8 【申请日】2008-08-11 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101651333A 【公开公告日】2010-02-17 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101651333B 【授权公告日】2012-07-25 【授权公告年份】2012.0 【发明人】施格 【主权项内容】1.一种电池保护IC，当执行晶片测试阶段或最终测试时，该电池保护IC 使用充电控制接脚Cout以减少延迟时间，其特征在于，该电池保护IC包括： 一延迟时间控制电路，具有一比较器以及一信号延迟选择器，其中，该 比较器具有一负输入端、一正输入端以及一输出端，该负输入端与VCC相连 接，该正输入端与所述的Cout接脚相连接，所述的输出端与所述的信号延迟 选择器相连接；以及 一电压源，与所述的Cout接脚相连接，当执行晶片测试阶段或最终测试 时，触动所述的延迟时间控制电路进以减少延迟时间。 【当前权利人】新德科技股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾新竹县
