24小时服务热线
效率高速
品质保障
厂家直供
售后保障
行业新闻
当前位置:行业新闻>

电子装置的麦克风测试方法与系统专利

发布时间:2026-06-20

【摘要】 本发明涉及电子装置的麦克风测试方法与系统。具体地,一种电子装置的麦克风测试方法,该电子装置内建一测试程序,该测试程序执行包含下述步骤:(a)将该电子装置的麦克风收集的一声音转换为一录音文件;及(b)比对该录音文件是否符合一预定标准,若符合则该麦克风通过测试,否则该麦克风未通过测试。本发明电子装置的麦克风测试方法的功效在于可免除杂音干扰、避免人工判断不精准的问题,并且在大量测试时可节省测试的时间。 【专利类型】发明申请 【申请人】纬创资通股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾台北县汐止市新台五路一段88号21F 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810172010.8 【申请日】2008-10-27 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101729969A 【公开公告日】2010-06-09 【公开公告年份】2010 【IPC分类号】H04R29/00 【发明人】康弘明; 傅子汉; 张力维; 郑东昆; 郭振兴 【主权项内容】一种电子装置的麦克风测试方法,所述电子装置内建一测试程序,所述测试程序执行包括下述步骤:(a)将所述电子装置的麦克风收集的一声音转换为一录音文件;以及(b)比对所述录音文件是否符合一预定标准,若符合则所述麦克风通过测试,否则所述麦克风未通过测试。。 【当前权利人】纬创资通股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾台北县汐止市新台五路一段88号21F 【被引证次数】32 【被自引次数】1.0 【被他引次数】31.0 【家族被引证次数】32

  • 【摘要】本发明提供了金属氧化物半导体晶体管及其制造方法。在一实施例中,本发明的金属氧化物半导体晶体管的栅电极具有延伸至一延伸介电层的一上部边缘的一部分,该延伸介电层分隔该栅电极与该金属氧化物半导体晶体管的一漏极区。另外,在邻近该栅电极的该部
  • 【摘要】一种液晶显示器,利用设置第一四分之一波长延迟膜与向列混合配向膜减少暗态状态下的漏光,由此达到高对比度,以及利用多伽玛驱动芯片分别提供液晶显示面板的不同颜色像素不同且独立的伽玛曲线,以解决色偏问题。另外,本发明的液晶显示器可另设置第二
  • 【摘要】本发明提供一种影像显示系统及其制造方法,上述影像显示系统包括薄 膜晶体管基板,上述薄膜晶体管基板包括基板,其具有显示区域及垫区域; 以及导线,设置于该显示区域的该基底上方,该导线具有上金属线、中间金 属线及下金属线,其中该中间金属线
  • 【摘要】本发明揭示一种覆晶封装制程。覆晶封装结构包括一芯片承载器、一芯片、多个凸块、一非导电胶体以及一挡墙。芯片承载器具有多个第一接点。芯片具有一有源表面以及多个位于有源表面上的焊垫,其中这些焊垫配置于芯片的有源表面的一中心区域内。凸块配置
  • 【摘要】本发明涉及一种IC测试装置,用于IC封装后的测试,主要包含有互相组配的一上盖板与一基座,其特征在于上盖板的内部容设有一通孔,以及在邻近前述的通孔附近设置有复数个测试探针,用以接触IC,各测试探针的内部容设有测试弹簧。又,基座的内部容
  • 【摘要】本发明公开了一种光学头倾斜角度的调整方法,包括:移动光学头至光学记录媒体的第一位置,并聚焦;获取第一位置的第一聚焦控制力和第一最佳倾斜角度;移动光学头至光学记录媒体的第二位置,并聚焦;获取第二位置的第二聚焦控制力和第二最佳倾斜角度;