【摘要】 一种光源校正方法，其包括下列步骤：一准备设备步骤、二调整步骤、三设定步骤、四检测步骤及五比较步骤；借前述步骤准备一检测镜组、一检测部、一校正部、一分析处理部、一光源及一光源校正组件；将检测镜组移动至检测部并将光源调至最小许可光源，即将检测镜组移动至校正部，并得到一亮度最低标准灰阶值；再将光源调回原先的亮度并移回检测部进行检测，当检测超过一预定时间，则将检测镜组移动至校正部，分析一使用中亮度灰阶值，借由使用中亮度灰阶值与亮度最低标准灰阶值的比较，确保光源维持在一定范围的亮度，使本发明兼具准确性高及成本低等优点。。： 【专利类型】发明授权 【申请人】东捷科技股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810089548.2 【申请日】2008-04-08 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101556380B 【公开公告日】2010-12-01 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101556380B 【授权公告日】2010-12-01 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G02F1/13; G02B27/00; G09G3/20; G09G3/34; G09G5/10 【发明人】张勋章; 李炳寰 【主权项内容】一种光源校正方法，其特征在于，包括下列步骤：一.准备设备步骤：准备一检测装置及一光源校正组件；该检测装置包括：一检测镜组，可作轴向伸缩；该检测镜组具有一镜头及一取像单元；一检测部，用以置放一待测物件；一校正部，用以置放该光源校正组件，且该检测部与该校正部共用该检测镜组；一分析处理部，是用以分析处理该取像单元所撷取的影像；一光源；二.调整步骤：将该检测镜组移动至该检测部，使该光源照射于该待测物件上，再逐渐降低该光源的亮度，直至降低到该分析处理部无法检出或检出能力低于规格值时的最小许可光源；三.设定步骤：将该检测镜组移动至该校正部，以该取像单元撷取通过该最小许可光源照射该光源校正组件所产生的预定图形影像，并经由该分析处理部分析处理而得到一亮度最低标准灰阶值；四.检测步骤：将该光源调回原先的亮度，且该检测镜组移回该检测部进行检测，当检测超过一预定时间，再将该检测镜组移动至该校正部；借该分析处理部分析处理而得到一使用中亮度灰阶值；五.比较步骤：当该使用中亮度灰阶值大于该亮度最低标准灰阶值，则表示可继续正常检测；而当该使用中亮度灰阶值低于该亮度最低标准灰阶值，则需加强该光源的亮度，使其大于等于该亮度最低标准灰阶值。 【当前权利人】东捷科技股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾 【引证次数】4.0 【他引次数】4.0 【家族引证次数】4.0 【家族被引证次数】6
