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集成电路及其减少电源消耗的方法专利

发布时间:2026-06-20

【摘要】 本发明提供一种集成电路及其减少电源消耗的方法,该集成电路具有多 个处理器核心,此集成电路包括多个可电控制开关,用以控制将电源提供至 多个处理器核心中的部分处理器核心;一存储器,用以储存所述部分处 理器核心中的状态数据;以及一控制器,用以控制将电源提供至所述部分处 理器核心,以使所述部分处理器核心可被关闭电源。因此,可提供一集成电 路,即使当电流消耗随着漏电结果而发生,其电流消耗可减少。 【专利类型】发明授权 【申请人】联发科技股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】台湾省新竹科学工业园区 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810109638.3 【申请日】2008-06-11 【申请年份】2008 【公开公告号】CN100585538C 【公开公告日】2010-01-27 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN100585538C 【授权公告日】2010-01-27 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G06F1/32 【发明人】拉斯·泽恩德加德·贝特尔松; 迈克尔·艾伦; 约恩·瑟伦森; 詹姆斯·丹尼斯·多德里; 约瑟夫·帕特里克·盖斯勒 【主权项内容】1.一种减少电源消耗的方法,适用于一集成电路,所述集成电路包括多个 处理器核心,其特征在于,所述方法包括: 提供一装置,用以控制提供至所述多个处理器核心中的部分处理器核心 的电源供应; 提供一存储器,用以储存所述部分处理器核心的状态数据;以及 提供一控制器,用以控制在所述部分处理器核心与所述存储器间的状态 数据传送,以使所述部分处理器核心可被关闭电源且在所述控制器的控制下 重新启动,也可返回至在被关闭电源之前的状态。 【当前权利人】联发科技股份有限公司 【当前专利权人地址】台湾省新竹科学工业园区 【引证次数】4.0 【他引次数】4.0 【家族引证次数】17.0 【家族被引证次数】21

  • 【摘要】一种异质壳体结合构造包括有第一构件、第二构件、及黏着剂。第二构件 贴设于第一构件内,黏着剂设置于第一构件与第二构件之间,且第二构件具有 多个通孔,以供黏着剂溢入并凝固成为倒扣部,以令第一构件与第二构件相结 合。本发明的有益技术功效在
  • 【摘要】提供一种研磨垫及其制造方法,可以提供不同的研磨液流场分布。该研磨 垫包括研磨层以及多个弧状沟槽。弧状沟槽配置在研磨层中,且这些弧状沟槽 各具有两端点,其中至少一端点的沟槽底斜面与研磨层表面的夹角小于90度 角。【专利类型】发明申请【
  • 【摘要】本发明披露一种液晶显示面板与应用其的液晶显示装置。该液晶显示面 板包括对向设置的第一基板与第二基板,二者之间夹有液晶层。第一基板具 有多个像素单元。各个像素单元包括数据线、扫描线、开关元件、第一像素 电极、第二像素电极、第一配向电极
  • 【摘要】一种可改善色偏的液晶显示面板及液晶显示装置,该显示面板包括平行 设置的第一基板与第二基板,液晶层密封于第一、第二基板之间。第一基板 包括多个以阵列形式排列的薄膜晶体管,各薄膜晶体管对应液晶显示面板的 像素单元设置。第一基板于各像素单
  • 【摘要】一种投影仪散热控制装置与方法。投影仪装置包括:发光装置、电源 供应装置、散热模块、至少一散热流场、第一感测装置、光学引擎模块以 及处理器。发光装置根据电源供应装置提供的电力提供光束。散热模块具 有可调整的散热效能,用以引导一散热介质
  • 【摘要】本发明提供一种晶圆测试装置及其测试方法,此晶圆测试装置包含一晶圆承载平台、一探针卡、多个转换器、一测试载板、一测试台以及一回馈装置,其中晶圆承载平台提供X-Y-Z三轴的移动以承载一待测晶圆,探针卡包含有多个探针以测试晶圆承载平台的待