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芯片与胶膜分离方法与芯片取出方法专利

发布时间:2026-06-17

【摘要】 该数据由<>整理 本发明提供一种芯片与胶膜分离方法与芯片取出方法,其中使用了包含有刮板的顶针装置,首先将芯片定位于顶针装置上方的第一位置,沿第一方向以一适当距离水平移动上述之芯片,顶针装置的刮板大致上位于邻近上述之芯片的边缘部份;开启真空以吸附芯片连同胶膜向下;将顶针装置的刮板向上移动顶住芯片背面的胶膜;将芯片连同胶膜沿第二方向水平移动一个芯片长度的距离,其中第二方向相反于第一方向,即可将芯片与胶膜分离。 【专利类型】发明申请 【申请人】均豪精密工业股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾新竹市 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810184404.5 【申请日】2008-12-19 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101752204A 【公开公告日】2010-06-23 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101752204B 【授权公告日】2011-06-29 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】H01L21/00; H01L21/677; H01L21/67 【发明人】郑礼忠; 蔡奇陵; 林轩民; 谢洹圳 【主权项内容】一种芯片与胶膜分离方法,供半导体黏晶工艺时使用,其特征主要包含有:提供一顶针装置,该顶针装置具有一刮板;提供至少一芯片,该芯片底部黏着有胶膜;施以一定位程序,将该芯片定位于该顶针装置上方的第一位置;沿第一方向以一适当距离水平移动该芯片,使得该芯片位于第二位置,且该顶针装置的刮板大致上位于邻近该芯片的边缘部份;开启一真空,以吸附该芯片连同该胶膜向下;将该顶针装置的刮板从第一刮板位置向上移动至第二刮板位置,使该刮板顶住该胶膜;以及将该芯片连同该胶膜沿第二方向水平移动一个芯片长度的距离,该第二方向系相反于该第一方向。 【当前权利人】均豪精密工业股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾新竹市 【引证次数】3.0 【被引证次数】12 【他引次数】3.0 【被他引次数】12.0 【家族引证次数】6.0 【家族被引证次数】12

  • 【摘要】本发明提供一种显影喷嘴结构及喷涂显影液的方法,该显影喷嘴结构包括一喷嘴腔体,具有一第一室、位于其下的一第二室、一注入管供应显影液注入所述第二室内,以及与所述第二室连通且位于所述第二室下方的一喷涂管;以及一闸门装置,设置于所述第一室与
  • 【摘要】一种制备高吸水性树脂的制造方法,(a)在一种含酸基单体的水溶性不饱和单体,中和比率在45至85摩尔%的范围内,不饱和单体水溶液的浓度在20至55重量份的范围;(b)添加一交联剂具有两个不饱和双键的化合物丙烯酸聚氧乙烯于水溶性不饱和单
  • 【摘要】本发明提供一种具有肖特基二极管的高压半导体元件,其包括一LDMOS元件包括:一半导体基底;一P-型体掺杂区于该基底的一第一区域中;一N-型漂移区于该基底的一第二区域中,且与P-型体掺杂区间存在一结;一绝缘区于基底上,定义出一主动区域
  • 【摘要】本发明是一种三段式拨钮扳手,包含有一扳手本体设有一容置空间、一枢 接孔与一定位孔,一棘动件以转动的方式设在所述的扳手本体的容置空间;一 卡掣装置设在所述的扳手本体的容置空间,所述的卡掣装置的卡掣件选择性啮 合于所述的棘动件,一换向开
  • 【摘要】本发明是有关于一种平面显示面板及其有源元件阵列基板与点亮测试方法,此有源元件阵列基板包括多个第一像素单元、多个第二像素单元、第一点亮测试线路、第二点亮测试线路以及多组信号导线群。位于周边电路区内的第一点亮测试线路与第二点亮测试线路分
  • 【摘要】本发明是一种行读取电路,用以对像素阵列中分别通过第一及第二数据线传输的第一及第二像素信号进行取样。行读取电路包括第一及第二取样电路、放大器电路及控制电路。控制电路用以在第一取样期间中控制第一取样电路对第一像素信号的重置电平及数据电平