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一种音乐节拍检测装置及其方法专利

发布时间:2026-06-17

【摘要】 一种音乐节拍检测装置,包括依次连接的音频信号输入模块,节拍获取电路模块,节拍处理模块及节拍输出模块;其中,节拍获取电路模块将通过音频信号输入模块接收的音乐的音频信号进行采样,将音频信号中的高频信号滤除,提取音频信号中的低频信号,并将低频信号转换成高、低电平的数字低频信号;节拍处理模块对输入的数字低频信号进行数字滤波处理,生成准确的数字节拍信号后通过节拍输出模块输出。本发明将简单的硬件电路与普通的数字滤波处理结合,减轻了信号处理的复杂度而提高了处理速度,使应用产品对乐曲节拍信号能做出迅速响应而能形成低成本、高互动性的玩具。 【专利类型】发明授权 【申请人】凌通科技股份有限公司; 北京北阳电子技术有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾新竹科学工业园区笃行路八号3楼 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810002813.9 【申请日】2008-01-04 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101216344B 【公开公告日】2010-12-08 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101216344B 【授权公告日】2010-12-08 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01H17/00 【发明人】罗立声; 王艳坤; 董丽 【主权项内容】一种音乐节拍检测装置,其特征在于,所述装置包括依次连接的音频信号输入模块,节拍获取电路模块,节拍处理模块以及节拍输出模块;其中:所述音频信号输入模块,用于接收所述音乐的音频信号;所述节拍获取电路模块,用于对所述音频信号进行采样,将所述音频信号中的高频信号滤除,提取所述音频信号中的低频信号,并将所述低频信号转换成高、低电平的数字低频信号;所述节拍处理模块,用于对输入的所述数字低频信号进行数字滤波处理,生成准确的数字节拍信号;所述节拍输出模块,用于将所述准确的数字节拍信号输出;所述节拍处理模块进一步包含依次连接的信号输入/输出模块、节拍时间记录模块、节拍时间值计算模块、存储模块以及数字滤波处理模块,其中:所述信号输入/输出模块,分别与所述节拍获取电路模块和所述节拍输出模块连接,用于从所述节拍获取电路模块输入高、低电平的数字低频信号,并将所述准确的数字节拍信号通过所述节拍输出模块输出;所述节拍时间记录模块,用于根据从所述信号输入/输出模块读取的所述高、低电平的数字低频信号,记录所述高、低电平的数字低频信号中每两个相同方向的陡沿之间的节拍时间计数;所述节拍时间值计算模块,用于根据从所述节拍时间记录模块读取的所述节拍时间计数计算节拍时间值,并将计算出的多个所述节拍时间值依次存储在多个字节的缓存单元中;所述存储模块,用于提供存储所述多个节拍时间值的所述缓存单元;所述数字滤波处理模块,用于对从所述存储模块的多个所述缓存单元中读取所述多个节拍时间值进行滤波处理,即从所述多个节拍时间值中滤除由杂波信号产生的时间值;然后将剩余的所述节拍时间值转换成所述准确的数字节拍信号通过所述信号输入/输出模块输出。 【当前权利人】凌通科技股份有限公司; 北京凌阳益辉科技有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾新竹市; 北京市海淀区上地信息产业基地三街1号楼(6层A段)A601 【专利权人类型】港、澳、台 【统一社会信用代码】91110108600062520N 【引证次数】1.0 【他引次数】1.0 【家族引证次数】1.0 【家族被引证次数】8

  • 【摘要】本发明提出一种发光二极管及其工艺,其包含金属反射层,以提高光线 在发光二极管内部的反射效率,同时也可降低电阻,降低功率损耗。另外, 上述金属反射层与半导体之间还包含缓冲层,此缓冲层为金属与非金属透明 介质的混合结构,以降低半导体与金
  • 【摘要】一种具有散热结构的半导体封装件,包括基板,接置于该基板上的半导体芯片,粘接于该半导体芯片上的散热结构,以及用于包覆该半导体芯片与散热结构的封装胶体;该散热结构由粘着剂、第一散热件、以及第二散热件所构成,且该散热结构通过该粘着剂粘设于
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  • 【摘要】新的依西美坦多晶型物,其特征在于其粉末X-射线衍射图在10.7±0.1、 15.9±0.1和18.1±0.12θ度处有峰。【专利类型】发明申请【申请人】台湾神隆股份有限公司【申请人类型】企业【申请人地址】中国台湾【申请人地区】中国【
  • 【摘要】本发明一种探针测试装置,主要于一电路板与一空间转换板之间设置 一垫高板,再设置多个探针于空间转换板,使得电路板的表面与这些探针 的针尖之间所具有的固定高度可透过垫高板加以克服,而不需要再另外制 作高厚度的空间转换板,可有效降低本发明
  • 【摘要】本发明公开了一种测试载板,具有一元件接合区,用以承载一封装元件,以对封装元件进行测试,测试载板包括多个介电层、一表层线路层、至少一内层线路层、多个接垫以及多个测试垫。表层线路层位于介电层的最外侧。内层线路层位于两相邻的介电层之间,并