【摘要】 本发明公开了一种精密定位测试接触电阻的方法及装置，包含精密定位单元、运动控制单元、接触电阻测试单元、计算机控制平台单元及反馈单元，预先确定标准样块上表面交点至测试样片上接触斑点的平面距离参数，计算机控制平台单元发送定位指令，运动控制单元接收定位指令及反馈指令并转化为控制电压指令输出，控制精密定位单元，反馈单元将精密定位单元的距离信息反馈到运动控制单元，然后，计算机控制平台单元发送接触压力指令和测试指令，接触电阻测试单元开始进行接触电阻测试，从而实现接触区域内接触斑点精密定位、重定位，可进行多点、多接触压力下接触电阻的自动连续测试。 【专利类型】发明授权 【申请人】北京邮电大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100876 北京市海淀区西土城路10号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810007403.3 【申请日】2008-03-07 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101236221B 【公开公告日】2010-09-01 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101236221B 【授权公告日】2010-09-01 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01R27/02 【发明人】许良军; 芦娜; 彭廷钟; 马勇 【主权项内容】一种精密定位测试接触电阻的方法，其特征在于，该方法包括：A.初始化精密定位测试接触电阻系统；B.设置平面定位参数及系统工作电流；C.设置接触压力参数，转换所述精密定位测试接触电阻系统工作模式，进行接触电阻测试；所述步骤A进一步包括：A1.预先确定标准样块上表面交点至测试样片上接触斑点的平面距离信息；A2.启动所述精密定位测试接触电阻系统；A3.确定所述精密定位测试接触电阻系统坐标系原点。 -官网 【当前权利人】北京邮电大学 【当前专利权人地址】北京市海淀区西土城路10号 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】12100000400009952C 【家族被引证次数】23
