【摘要】 本发明公开了一种图像细线检测的方法，该方法包括，在待检测区域上设置偶数尺寸边界方法检测窗口，根据窗口内像素点的像素值与边界检测模板，计算窗口中心点即像素点顶角边界方向；设置奇数尺寸边界强度检测窗口，在窗口内计算非中心像素点相对于中心像素点的向量，计算对应每个掩蔽模板的合向量，根据合向量与对应掩蔽模板的相似非中心像素点数量参数，计算中心像素点的细线边界强度；根据像素点细线边界强度和顶角边界方向检测细线。本发明还公开了一种图像细线检测的装置。本发明公开的图像细线检测方法计算简单，节省检测成本，有利于进行硬件电路的成本控制。 该数据由<>整理 【专利类型】发明申请 【申请人】北京大学; 方正国际软件(北京)有限公司; 京瓷美达株式会社 【申请人类型】企业,学校 【申请人地址】100871 北京市海淀区颐和园路5号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810225210.5 【申请日】2008-10-27 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101727669A 【公开公告日】2010-06-09 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101727669B 【授权公告日】2012-01-11 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G06T7/00 【发明人】袁梦尤; 王宗宇; 六尾敏明; 李平立 【主权项内容】一种图像细线检测的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：在待检测区域上设置偶数尺寸边界方向检测窗口，根据所述边界方向检测窗口内像素点的像素值与边界检测模板，计算所述边界方向检测窗口内中心点的边界方向，其中，所述中心点为像素点顶角；并且，在待检测区域上设置奇数尺寸边界强度检测窗口，在所述边界强度检测窗口内计算每个非中心像素点相对于中心像素点的向量，根据每个向量计算每个掩蔽模板的合向量，根据每个合向量与该掩蔽模板的相似非中心像素点数量参数，计算边界强度检测窗口内中心像素点的细线边界强度；根据所述像素点的细线边界强度和顶角边界方向，检测所述待检测区域是否为细线区域。 【当前权利人】北京大学; 方正国际软件(北京)有限公司; 京瓷美达株式会社 【当前专利权人地址】北京市海淀区颐和园路5号; 北京市海淀区北四环西路52号5层505; 日本大阪府大阪市 【专利权人类型】公立; 有限责任公司(法人独资) 【统一社会信用代码】12100000400002259P; 91110108801144696L 【被引证次数】2 【被自引次数】2.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】2
