【摘要】 本发明涉及一种单光子断层成像方法和一种单光子断层成像系统，该方法通过光电倍增管阵列采集γ光子在闪烁晶体上碰撞产生的荧光信号，通过数据采集模块将该荧光信号转换为荧光数字信号送入定位模块进行定位计算，形成定位数据并将全部有效的定位数据转换为图像，所述定位计算中采用的算法是质心引导的最大似然定位算法，先用质心定位法计算出γ光子碰撞事件发生的位置，再在选定范围内用局部二维最大似然法进行精确的估计，形成该γ光子碰撞事件的定位数据；该系统包括闪烁晶体、光电倍增管阵列、数据采集模块、定位模块以及成像模块。本发明的定位精度与最大似然定位法相近，并且大幅度缩短了计算时间，大幅度降低了对计算机的硬件和存储空间的要求。。-官网 【专利类型】发明授权 【申请人】北京海思威科技有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100084 北京市海淀区蓝旗营小区3-1606 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810247569.2 【申请日】2008-12-30 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101449980B 【公开公告日】2010-11-03 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101449980B 【授权公告日】2010-11-03 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】A61B6/03 【发明人】蔡白银; 曹文田; 包尚联 【主权项内容】1.一种单光子断层成像方法，其特征在于通过光电倍增管阵列采集γ光子在闪烁晶体上碰撞产生的荧光信号，通过数据采集模块将该荧光信号转换为荧光数字信号送入定位模块进行定位计算，形成定位数据并将全部有效的定位数据转换为图像，所述定位计算中采用的算法是质心引导的最大似然定位算法，先用质心定位法计算出γ光子碰撞事件发生的位置，再在选定范围内用局部二维最大似然法进行精确的估计，形成该γ光子碰撞事件的定位数据，所述定位计算的计算过程是： (1)确定质心定位的计算区域：在光电倍增管阵列接到一个荧光信号后，找出输出值最大的光电倍增管，以该光电倍增管为中心选定一个质心定位的计算区域； (2)采用质心定位算法计算γ光子碰撞事件的位置，所述位置的坐标值用xc和yc表示； (3)对上述坐标值xc和yc进行非线性校正，获得校正后的x坐标值xn1和y坐标值yn1； (4)确定局部二维最大似然定位的范围：选取非线性校正后坐标值xn1和yn1的偏差范围Δx和Δy，确定局部二维最大似然定位的范围为： (xn1-Δx，yn1-Δy)--(xn1+Δx，yn1+Δy) (5)进行局部二维最大似然定位计算，获得位置坐标：在上述范围内满足下列方程组的坐标值： 其中Mi为范围内第i个光电倍增管的输出值，Si(x，y)是第i个光电倍增管的光响应函数，该方程组的解就是所需的γ光子碰撞事件的位置坐标值。 【当前权利人】北京海思威科技有限公司 【当前专利权人地址】北京市海淀区蓝旗营小区3-1606 【专利权人类型】有限责任公司(自然人投资或控股) 【统一社会信用代码】91110108749357079T 【家族被引证次数】14
