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粗集料矿料间隙率试验测试设备专利

发布时间:2026-06-14

【摘要】 本发明提出一种粗集料矿料间隙率试验测试设备。它包括机架部分、底座部分及控制器;机架部分中,机架上设有磁铁、电机和减速机,还设有提锤链条、导轨和落锤导向杆,滑块套接在导轨上、而且一边连接提锤链条另一边固定传力杆,提锤舌板固定在滑块上方并控制落锤沿落锤导向杆向上运动到设定高度,落锤可自由下落,落锤下端设有可拆卸锤头;底座部分中,底座上固定机架,底座内部固定分度器,分度器上的接力杆从底座上面伸出且与传力杆位置相对应,底座上安装由分度器控制的转动盘,转动盘上设有固定底座和测试桶;落锤导向杆和落锤在磁铁的控制下可绕导轨的垂直轴摆动至对应测试桶中心;控制器用于控制计数器、启动和停止、电机开关、落锤的摆动。 【专利类型】发明申请 【申请人】交通部公路科学研究院 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】100088 北京市海淀区西土城路8号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810239796.0 【申请日】2008-12-17 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101750271A 【公开公告日】2010-06-23 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101750271B 【授权公告日】2011-06-29 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】G01N15/08; G01N33/42 【发明人】王旭东; 张蕾; 边俊林; 李美江; 周兴业; 沈国辉 【主权项内容】一种粗集料矿料间隙率试验测试设备,其特征在于,它包括机架部分、底座部分及控制器;所述机架部分中,机架(1)的上部设有磁铁(2)、内部或旁边设有电机和减速机(5),机架(1)的前面设有提锤链条(4)、导轨(3)和落锤导向杆(8),提锤链条(4)由减速机带动,滑块(15)套接在导轨(3)上并可沿导轨(3)上下运动、而且一边连接提锤链条(4)另一边固定传力杆(17),提锤舌板(9)固定在滑块(15)上方并控制落锤(10)沿落锤导向杆(8)向上运动到设定高度,落锤(10)以自由落体方式下落,落锤(10)下端设有可拆卸锤头(11);所述底座部分中,底座(7)上固定机架(1),底座(7)内部固定分度器(16),分度器(16)上的接力杆(6)从底座(7)的上面伸出且与传力杆(17)位置相对应,底座(7)上安装由分度器(16)控制的转动盘(14),转动盘(14)上设有固定底座(13)和测试桶(12);落锤导向杆(8)和落锤(10)在磁铁(2)的控制下可绕导轨(3)的垂直轴摆动至对应测试桶(12)中心;所述控制器用于控制计数器、启动和停止、电机开关、落锤(10)向测试桶(12)中心的摆动。 【当前权利人】交通部公路科学研究院 【当前专利权人地址】北京市海淀区西土城路8号 【被引证次数】2 【被他引次数】2.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】2

  • 【摘要】本发明公开了一种多气氛及真空环境下测量材料摩擦行为的装置,包括基座、驱动装置、样品夹持机构、压头控制机构、密封罩,基座上设有密封罩将样品夹持机构和压头控制机构密封,样品夹持机构包括样品台、样品压盖和垂直回转轴,样品夹持在样品台和样品
  • 【摘要】本发明公开了一种沟槽型DMOS管及其制备方法,涉及集成电路制备,尤其涉及沟槽型DMOS管及其制备方法,为了解决现有技术无法同时实现DMOS管耐高压和低导通电阻的问题。沟槽型DMOS管的制备方法包括:在衬底上沉积一层与所述衬底的导电类
  • 【摘要】本发明公开了一种升压电路,开发成本和维护成本都较低。该升压电路包括开关,还包括信号发生电路、续流二极管、滤波电容和二次升压电路,所述信号发生电路输出脉冲信号控制所述开关闭合或断开,所述续流二极管的正极接入所述开关输出的开关信号,负极
  • 【摘要】本发明提供一种视频解码方法,包括下列步骤:1)根据预设所需减少的时间百分比K,确定环路滤波的处理级别;2)计算视频宏块的残差矩阵;3)根据已经解码的视频宏块计算预测值矩阵;4)对所述残差矩阵与预测值矩阵之和,根据所述环路滤波的处理级
  • 【摘要】本发明公开了一种具有平坦基模模场分布的大模场面积微结构光纤,涉及一种微结构光纤;解决了传统的具有平坦基模模场分布的大模场面积光纤必须具有超低纤芯数值孔径所需要的生产工艺高精度控制问题。该微结构光纤由纤芯和包围纤芯的包层组成。芯区由一
  • 【摘要】本发明公开了一种识别转子叶片连续碰磨数目的方法,此方法通过四步来实现:1.绘制时域响应信号曲线,查找响应异常区段,记录该区段的时间域、幅值范围和响应峰值的数目。2.绘制三维谱图;3.找出上一步记录的时间点对应的时域响应曲线并做出自谱