【摘要】 一种高温云纹干涉变形测量系统，属于光测力学、工程材料、构件变形和位移测试技术领域。本发明由激光器、分光耦合器、高温炉、六维调节架和云纹干涉光路系统五部分组成。该测量系统可以实现在高温条件下对u，v两个位移场的高精度实时测量。系统使用绿光照明避免热辐射红光对测量的影响，利用光开关实现面内位移场的自动化测量，采用十字形分块双层石英玻璃解决高温炉的观测窗设计，同时用600线/mm的光栅和长焦距大直径的镜头作为场镜，增大测量物距，减小高温对测量系统的影响，提高条纹分辨率。通过六维调节架，调节云纹干涉光路系统，解决高温炉中试件难于调节的问题。系统使用方便，测量灵敏度高。 【专利类型】发明授权 【申请人】清华大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100084 北京市100084信箱82分箱清华大学专利办公室 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810119805.2 【申请日】2008-09-11 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101349549B 【公开公告日】2010-10-06 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101349549B 【授权公告日】2010-10-06 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01B11/16 【发明人】戴福隆; 谢惠民; 花韬; 方岱宁 【主权项内容】一种高温云纹干涉变形测量系统，含有图像采集系统(1)、激光器(2)、分光耦合器(3)、带有观测窗的高温炉(4)、六维调节架(5)和云纹干涉光路系统，所述的云纹干涉光路系统包括云纹干涉光学元件箱(6)、镜头(8)和光栅(44)；云纹干涉光学元件箱(6)放置在六维调节架(5)上，图像采集系统(1)、镜头(8)和光栅(44)位于同一直线上，光栅(44)粘贴在试件(7)表面，试件(7)放置在带有观测窗的高温炉(4)中，激光器(2)、分光耦合器(3)位于云纹干涉光路系统的同一侧，其特征在于：所述的云纹干涉光路系统采用焦距至少为100mm、直径至少为50mm的镜头(8)作为场镜，云纹干涉光路系统中采用的光栅为600线/mm的光栅；所述的激光器(2)为半导体绿光激光器，其波长为533nm。 【当前权利人】清华大学 【当前专利权人地址】北京市100084信箱82分箱清华大学专利办公室 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】12100000400000624D 【引证次数】10.0 【被引证次数】5 【自引次数】2.0 【他引次数】8.0 【被自引次数】2.0 【被他引次数】3.0 【家族引证次数】10.0 【家族被引证次数】24
