【摘要】 本发明属于光谱分析技术。为了降低阿达玛变换近红外光谱仪的体积,本发明提供了一种阿达玛变换近红外光谱仪检测光的方法,包括透过样品的入射光被准直后投射到光栅的步骤、投射到光栅的光发生第一次衍射并经准直后投射到微镜阵列的步骤,经微镜阵列调制并反射的光被准直后投射到所述光栅进行第二次衍射步骤,聚焦步骤A第二次衍射的光到检测器步骤。本发明可以广泛应用于物质的近红外光谱分析领域。 【专利类型】发明授权 【申请人】北京华夏科创仪器技术有限公司; 浙江谱创仪器有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100085 北京市海淀区上地信息路2号C座8层808室 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810239143.2 【申请日】2008-12-10 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101419164B 【公开公告日】2010-12-22 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101419164B 【授权公告日】2010-12-22 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01N21/45 【发明人】张新民; 曾立波; 冯新泸 【主权项内容】阿达玛变换近红外光谱仪检测光的方法,包括入射光被准直后投射到光栅的步骤、投射到光栅的光发生第一次衍射并经准直后投射到微镜阵列的步骤,其特征在于还包括如下步骤:A、经微镜阵列调制并反射的光被准直后投射到所述光栅进行第二次衍射;B、聚焦步骤A第二次衍射的光到检测器;所述准直和聚焦步骤采用凹镜反射实现,用凹镜反射实现的准直步骤包括入射光被准直、第一次衍射后准直及步骤A中的准直步骤;所述微镜阵列采用反射式微镜阵列,所述光栅采用反射式光栅。。 【当前权利人】北京华夏谱创仪器有限公司 【专利权人类型】有限责任公司(自然人投资或控股); 有限责任公司(自然人投资或控股的法人独资) 【统一社会信用代码】; 91330402683107682J 【家族被引证次数】6