【摘要】 一种电光调制器线性度测试装置，当被测电光调制器为强度调制器时，光源光波送入被测电光调制器，调制信号发生器产生调制信号送入被测电光调制器、第一和第二解调电路，测试信号发生器产生测试信号送入被测电光调制器和第一解调电路，在被测电光调制器内，调制信号使两光波产生调制相位差，测试信号使两光波产生测试相位差，两光波干涉后送入探测器，经光电转换后送至第二解调电路，第一解调电路获取测试信号大小，第二解调电路获取测试相位差；当被测电光调制器为Y波导集成光学器件时，光源光波经调制用电光调制器后送至被测电光调制器，调制信号发生器调制信号送入调制用电光调制器，测试信号发生器测试信号送入被测电光调制器，其余结构不变化。 【专利类型】发明授权 【申请人】北京航天时代光电科技有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100071 北京市丰台区小屯路149号北 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】丰台区 【申请号】CN200810226744.X 【申请日】2008-11-21 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101408477B 【公开公告日】2010-06-16 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101408477B 【授权公告日】2010-06-16 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01M11/02 【发明人】王学锋; 王巍; 于海成; 高峰; 王军龙 【主权项内容】一种电光调制器线性度测试装置，其特征在于包括：光源(201)、探测器(204)、调制信号发生器(206)、测试信号发生器(208)、第一解调电路(210)、第二解调电路(211)；当被测电光调制器(203)为强度调制器时，光源(201)发出的光波送入被测电光调制器(203)，调制信号发生器(206)产生的调制信号分别送入被测电光调制器(203)、第一解调电路(210)和第二解调电路(211)，测试信号发生器(208)产生的测试信号分别送入被测电光调制器(203)和第一解调电路(210)，在被测电光调制器(203)内，调制信号使两光波之间产生调制相位差，测试信号使两光波之间产生测试相位差，所述两光波发生干涉后送入探测器(204)，经光电转换后送至第二解调电路(211)，第一解调电路(210)用于获取测试信号的大小，第二解调电路(211)用于获取测试相位差；当被测电光调制器(203)为Y波导集成光学器件时，光源(201)发出的光波经调制用电光调制器(202)后送至被测电光调制器(203)，调制信号发生器(206)产生的调制信号分别送入调制用电光调制器(202)、第一解调电路(210)和第二解调电路(211)，测试信号发生器(208)产生的测试信号分别送入被测电光调制器(203)和第一解调电路(210)，在调制用电光调制器(202)内，调制信号使两光波之间产生调制相位差，在被测电光调制器(203)内，测试信号使两光波之间产生测试相位差，两光波干涉后送入探测器(204)，经光电转换后送至第二解调电路(211)，第一解调电路(210)用于获取测试信号的大小，第二解调电路(211)用于获取测试相位差。 【当前权利人】北京航天时代光电科技有限公司 【当前专利权人地址】北京市海淀区丰滢东路1号 【专利权人类型】其他有限责任公司 【统一社会信用代码】91110108683555223W 【家族被引证次数】5
