【摘要】 本发明涉及光学测量技术领域。本发明公开了一种基于表面等离激元干涉的折射率传感器，所述传感器包括：衬底、激发部件、缝式散射耦合结构以及缝式干涉耦合结构。本发明还公开了所述传感器的探测方法，所述方法包括：待测样品在激发部件一侧；光源在另一侧通过聚焦部件聚焦；聚焦光束通过缝式散射耦合结构在激发部件上下表面激发两路表面等离激元(Surface Plasmon)并且各自独立地传到缝式干涉耦合结构处发生干涉；根据干涉结果的改变来感应所述激发部件表面待测样品的折射率的变化。 【专利类型】发明申请 【申请人】北京大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100871 北京市海淀区颐和园路5号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810224628.4 【申请日】2008-10-21 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101726470A 【公开公告日】2010-06-09 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101726470B 【授权公告日】2011-08-17 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】G01N21/45; G01N21/41 【发明人】张家森; 吴晓飞; 龚旗煌 【主权项内容】一种基于表面等离激元干涉折射率传感器，其特征在于，所述传感器包括：衬底(1)；激发部件(2)，所述激发部件位于所述衬底(1)上；缝式散射耦合结构(3)，所述缝式散射耦合结构(3)位于所述激发部件(2)内；缝式干涉耦合结构(4)，所述缝式干涉耦合结构(4)位于所述激发部件(2)内且与所述缝式散射耦合结构(3)相互平行。 【当前权利人】北京大学 【当前专利权人地址】北京市海淀区颐和园路5号 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】12100000400002259P 【被引证次数】6 【被自引次数】2.0 【被他引次数】4.0 【家族引证次数】4.0 【家族被引证次数】6
