【摘要】 本发明为一种RFID标签工作电平的基准测试系统及方法，包括待测标签支架、收发及参考天线支架、收发及参考天线置于标准测试环境内；环形器、频谱分析仪、RFID信号发生器、功率计置于标准测试环境外；方法是将RFID标签芯片和天线看作整体，用电磁波在自由空间的传播公式，通过参考和收发天线测量RFID标签系统的输入和输出电平，推算能够激活RFID标签工作的最小电平，再对RFID标签的理论读取距离评估。通过对决定RFID标签性能的重要指标之一的RFID标签功耗进行科学、可重复、可比较的非接触测量，解决现有技术指标不明确、测试结果误差大的问题，为使用者根据不同应用需求选择RFID标签产品提供辅助决策依据。 【专利类型】发明申请 【申请人】中国科学院自动化研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】100080 北京市海淀区中关村东路95号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810239330.0 【申请日】2008-12-10 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101750553A 【公开公告日】2010-06-23 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101750553B 【授权公告日】2013-01-09 【授权公告年份】2013.0 【IPC分类号】G01R31/00; G06K7/00 【发明人】刘禹; 关强; 赵健; 曾隽芳 【主权项内容】一种RFID标签工作电平的基准测试系统，其特征在于：包括标准测试环境(1)、待测标签支架(2)、收发天线支架(3)、参考天线支架(4)、收发天线(5)、环形器(6)、频谱分析仪(7)、RFID信号发生器(8)、参考天线(9)和功率计(10)，其中：待测标签支架(2)、收发天线支架(3)、参考天线支架(4)、收发天线(5)、参考天线(9)置于标准测试环境内(1)；环形器(6)、频谱分析仪(7)、RFID信号发生器(8)、功率计(10)置于标准测试环境外；收发天线(5)与环行器(6)、参考天线(9)与功率计(10)分别通过射频馈线相连；环行器(6)与RFID信号发生器(8)相连，环行器(6)单向传递RFID信号发生器(8)发来的射频信号至收发天线(5)；环行器(6)与频谱分析仪(7)相连，将收发天线(5)传回的射频信号单向传递到频谱分析仪(7)；收发天线(5)垂直固定在收发天线支架(3)上方，参考天线(9)垂直固定于参考天线支架(3)上方，收发天线(5)、参考天线(9)的辐射面几何中心位置的延长线交于待测标签支架(2)的顶点，并且收发天线(5)到参考天线(9)与收发天线(5)到待测标签支架(2)的顶点的水平距离相等。 【当前权利人】中国科学院自动化研究所 【当前专利权人地址】北京市海淀区中关村东路95号 【统一社会信用代码】12100000400010945B 【被引证次数】32 【被自引次数】2.0 【被他引次数】30.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】33
