【摘要】 本发明公开了一种基于频率选择性光反馈光腔衰荡技术的高反射率测量方法，采用连续激光入射到初始衰荡腔，衰荡腔出射信号由透镜会聚后由光电探测器转换为电信号，并由数据采集卡记录，衰荡信号由计算机处理得到初始腔衰荡时间；然后插入待测平面镜构成测试衰荡腔，重复测量得到测试腔衰荡时间，并由两个衰荡时间计算得到待测平面镜的反射率。其特征在于：利用两块高反射平凹腔镜和一块高反射平面镜构成初始衰荡腔，激光束从高反射平面镜非垂直入射进初始衰荡腔，入射角保证从平面镜后向反射的一次反射光不进入激光器谐振腔；精确调节两块腔镜，使衰荡腔的频率选择性后向反射激光输出进入激光器谐振腔，形成频率选择性光反馈。 【专利类型】发明授权 【申请人】中国科学院光电技术研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】610209 四川省双流350信箱 【申请人地区】中国 【申请人城市】成都市 【申请人区县】双流区 【申请号】CN200810102778.8 【申请日】2008-03-26 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101261182B 【公开公告日】2010-06-23 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101261182B 【授权公告日】2010-06-23 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01M11/02 【发明人】李斌成; 龚元; 韩艳玲 【主权项内容】基于频率选择性光反馈光腔衰荡技术的高反射率测量方法，采用激光入射到初始衰荡腔，衰荡腔出射信号由透镜会聚后由光电探测器转换为电信号，并由数据采集卡记录，衰荡信号由计算机处理得到初始腔衰荡时间，然后插入待测平面镜构成测试衰荡腔，重复测量得到测试腔衰荡时间，并由两个衰荡时间计算得到待测平面镜的反射率；其特征在于：利用两块高反射平凹腔镜和一块高反射平面镜构成初始衰荡腔，激光束非垂直入射到初始衰荡腔的高反射平面镜上，入射角保证从平面镜后向反射的一次反射光不进入激光器谐振腔；精确调节两块腔镜，使衰荡腔的频率选择性后向反射激光输出进入激光器谐振腔，形成频率选择性光反馈；其中：若插入所述待测平面镜后，腔长不变，所述待测平面镜的反射率Rx由以下公式计算得到：Rx＝exp(L/cτ1-L/cτ2)，其中所述初始腔衰荡时间τ1，所述测试腔的衰荡时间τ2，L为腔长，c为光速；若插入所述待测平面镜后，变换后的腔长为L2，所述待测平面镜的反射率Rx由以下公式计算得到：Rx＝exp(L/cτ1-L2/cτ2)。 【当前权利人】中国科学院光电技术研究所 【当前专利权人地址】四川省双流350信箱 【统一社会信用代码】12100000450811820A 【引证次数】8.0 【被引证次数】22 【自引次数】6.0 【他引次数】2.0 【被自引次数】16.0 【被他引次数】6.0 【家族引证次数】18.0 【家族被引证次数】65
