【摘要】 本发明揭露一种电容触控面板及其检测方法。该电容触控面板包含一层状基材以及设置于该层状基材上的多排第一感测垫、多排第二感测垫以及一接口连接垫。该多排第一感测垫及该多排第二感测垫分别平行排列并且与该接口连接垫电连接。于该电容触控面板尚未自该层状基材裁切之前，利用该多排第一感测垫及该多排第二感测垫与该接口连接垫的连接，以及额外的连接线以连接该多排第一感测垫及该多排第二感测垫，形成串联或并联的电连接，再经由该接口连接垫同时或分别测量并判断该多排第一感测垫及该多排第二感测垫的电连接状态。 【专利类型】发明授权 【申请人】友达光电股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾新竹市 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810174034.7 【申请日】2008-11-12 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101408825B 【公开公告日】2010-07-21 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101408825B 【授权公告日】2010-07-21 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G06F3/044 【发明人】郭威宏; 吴元均; 杨敦钧; 李锡烈; 黄伟明 【主权项内容】一种电容触控面板的检测方法，其特征在于，所述方法包含：(a)准备一电容触控面板半成品，所述电容触控面板半成品包含：一层状基材；多排第一感测垫，每一排第一感测垫沿一第一方向平行排列设置于所述层状基材上，每一排第一感测垫包含多个电性串联的感测垫、一第一端连接部以及一第二端连接部；多排第二感测垫，每一排第二感测垫沿一第二方向平行排列设置于所述层状基材上，所述第二方向异于所述第一方向，每一排第二感测垫包含多个电性串联的感测垫以及二个端连接部，其中所述多排第二感测垫与所述多排第一感测垫交错绝缘设置；一接口连接垫，形成于所述层状基材上，所述接口连接垫包含多个第一连接垫以及多个第二连接垫，所述多个第一连接垫电连接所述多排第一感测垫的所述多个第一端连接部，所述多个第二连接垫电连接所述多排第二感测垫；以及一基准电压绕线，形成于所述层状基材上，所述基准电压绕线环绕所述多排第一感测垫以及所述多排第二感测垫，所述基准电压绕线并包含多个桥接部以绕过所述多排第一感测垫的所述多个第二端连接部及所述多排第二感测垫的所述多个端连接部，其中定义一切断线于所述层状基材上用于检测后切断以形成一电容触控面板，所述切断线包围所述多排第一感测垫、所述多排第二感测垫、所述接口连接垫以及所述基准电压绕线；(b)将所述多排第一感测垫经由相邻的所述多个第二端连接部以一第一绕线电性串联，所述第一绕线跨越所述切断线形成于所述层状基材上；(c)经由所述接口连接垫分别测量所述多排第一感测垫及所述多排第二感测垫的一电连接状态；或者以多个第二绕线经由所述多个第一连接垫及所述多个第二连接垫将所述多排第一感测垫与所述多排第二感测垫串联，其中所述多个第二绕线跨越所述切断线形成于所述层状基材上，经由所述接口连接垫同时测量所述多排第一感测垫及所述多排第二感测垫的一电连接状态；以及(d)当所述电连接状态被测量超出一标准范围时，判断所述多排第一感测垫或所述多排第二感测垫具有短路缺陷或断路缺陷。 【当前权利人】友达光电股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾新竹市 【被引证次数】2 【被他引次数】2.0 【家族被引证次数】37
