【摘要】 射线检测系统以及利用射线进行无损检测物体的方法：该检测系统包括：辐射源，用于发射扫描射线；探测器阵列，沿竖直方向与辐射源隔开并相对于辐射源固定安装，用于接收由辐射源发射的射线；运载器，用于运载被检测物体；第一平动装置，能够使被检测物体在辐射源与探测器阵列之间沿第一方向水平运动；和第二平动装置，能够使被检测物体在辐射源与探测器阵列之间沿基本垂直于第一方向的第二方向水平运动。第二平动装置设置在第一平动装置上，而运载器设置在第二平动装置上。本发明可以对被检测物体实现任意角度的DR扫描，提高检测的准确性；还可以对被检测物体的重点部位进行二代、三代CT断层扫描，从而对内部缺陷做出准确判断。。 【专利类型】发明申请 【申请人】同方威视技术股份有限公司; 清华大学; 北京固鸿科技有限公司 【申请人类型】企业,学校 【申请人地址】100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810227001.4 【申请日】2008-11-18 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101738405A 【公开公告日】2010-06-16 【公开公告年份】2010 【IPC分类号】G01N23/18; G01N23/04; G01N23/02 【发明人】李元景; 陈志强; 李荐民; 吴玉成; 杨光; 肖永顺; 孙尚民; 张克; 叶梁; 苏建军; 陆宏宇; 叶青; 雍涛; 姜海涛; 李建军; 万静; 何正军; 王东宇; 陈少锋; 周立英 【主权项内容】一种射线检测系统，包括：辐射源，用于发射扫描射线；探测器阵列，沿竖直方向与所述辐射源隔开并相对于所述辐射源固定安装，用于接收由所述辐射源发射的射线；运载器，用于运载被检测物体；第一平动装置，能够使所述运载器运载的被检测物体在所述辐射源与所述探测器阵列之间沿第一方向水平运动；和第二平动装置，能够使所述运载器运载的被检测物体在所述辐射源与所述探测器阵列之间沿基本垂直于第一方向的第二方向水平运动，其中第二平动装置设置在第一平动装置上，而所述运载器设置在第二平动装置上。 【当前权利人】同方威视技术股份有限公司; 清华大学; 北京固鸿科技有限公司 【当前专利权人地址】北京市海淀区双清路同方大厦A座2层; 北京市海淀区清华园; 北京市海淀区王庄路1号清华同方科技广场A座17层 【专利权人类型】其他股份有限公司(非上市); 公立; 有限责任公司 【统一社会信用代码】91110108710927548B; 12100000400000624D; 911101087719621018 【引证次数】1.0 【被引证次数】20 【自引次数】1.0 【被自引次数】6.0 【被他引次数】14.0 【家族引证次数】1.0 【家族被引证次数】20
