【摘要】 本发明提供了一种取向硅钢[001]晶向偏离轧向的角α，β的测定方法，属于X射线检测技术领域。本发明提出了采用固定2θ角，进行ω扫描的非对称X射线衍射方法来测定取向硅钢易磁化方向[001]晶向取向分布的原理，以及针对取向硅钢板的具体情况采用叠片法对取向硅钢[001]晶向偏离角α、β角的测定方法(其中α为[001]晶向对轧向在轧面上的偏离角，β为[001]晶向对轧面的倾角)。该方法具有操作简单，测量速度快，测试结果有统计代表性，意义明确等优点。 【专利类型】发明授权 【申请人】北京钢研高纳科技股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100081 北京市海淀区大柳树南村19号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810055801.2 【申请日】2008-01-09 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101216440B 【公开公告日】2010-11-10 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101216440B 【授权公告日】2010-11-10 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01N23/207; G01N13/00 【发明人】方建锋; 田志凌; 浦玉萍; 霍静; 张晋远; 郑毅 【主权项内容】取向硅钢[001]晶向偏离角α、β的测定方法，晶向偏离角α是指[001]晶向在轧面内偏离轧向的角度，晶向偏离角β是指[001]取向对轧向的倾角，其特征是用X射线衍射仪对硅钢片试样进行非对称X射线衍射测定，首先在固定硅钢(002)晶面的衍射角2θ的基础上，进行ω扫描获得相应的衍射图谱，取得每一峰值所对应的ω角，再依据[001]晶向偏离角α或β与ω角的关系式α或β＝|ω-2θ/2|，相应确定出[001]晶向偏离角α或β。 【当前权利人】北京钢研高纳科技股份有限公司 【当前专利权人地址】北京市海淀区大柳树南村19号 【专利权人类型】股份有限公司(上市、国有控股) 【统一社会信用代码】911100007447282723 【引证次数】5.0 【被引证次数】2 【他引次数】5.0 【被自引次数】2.0 【家族引证次数】5.0 【家族被引证次数】22
