【摘要】 本发明公开了一种集成电路板级自动测试系统，包括计算机、GPIB接口、USB接口、自动分选机和测试接口板；其中，计算机连接GPIB接口和USB接口，GPIB接口连接自动分选机，自动分选机和USB接口都连接测试接口板，测试接口板连接被测器件。该集成电路板级自动测试系统具有使用方便、成本低廉、自动化程度高等特点。同时，该集成电路板级自动测试系统还具有高效的并行测试能力，通过有效地平衡设计与测试资源，缩短了测试时间，为用户提供了更为有效的测试解决方案。 【专利类型】发明申请 【申请人】北京华大泰思特半导体检测技术有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100088 北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦4层 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810239968.4 【申请日】2008-12-16 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101750578A 【公开公告日】2010-06-23 【公开公告年份】2010 【IPC分类号】G01R31/28; B07C5/344; B07C5/34 【发明人】张琳; 刘炜; 石志刚; 吉国凡; 王慧; 金兰; 宋奕霖 【主权项内容】一种集成电路板级自动测试系统，其特征在于：所述集成电路板级自动测试系统包括计算机、GPIB接口、USB接口、自动分选机和测试接口板；其中，所述计算机连接所述GPIB接口和USB接口，所述GPIB接口连接所述自动分选机，所述自动分选机和所述USB接口都连接所述测试接口板，所述测试接口板连接被测器件。 【当前权利人】北京华大泰思特半导体检测技术有限公司 【当前专利权人地址】北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦4层 【引证次数】1.0 【被引证次数】9 【他引次数】1.0 【被他引次数】9.0 【家族引证次数】1.0 【家族被引证次数】9
