【摘要】 本发明属于一种表征方法，特别涉及对具有介孔的无机材料进行表面修饰后的介孔保留状况的表征。将未经过表面修饰和表面修饰后的具有介孔的无机材料进行荧光标记，在同一曝光强度下比较荧光的强弱。从而判断对具有介孔的无机材料表面修饰方法特别是高分子表面修饰剂修饰作用的好坏。用本发明能快速判断高分子表面修饰剂对具有介孔的无机材料表面修饰的有效程度，作为一种测试手段，方便直观。 【专利类型】发明授权 【申请人】中国科学院化学研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】100080 北京市海淀区中关村北一街2号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810056210.7 【申请日】2008-01-15 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101487795B 【公开公告日】2010-08-18 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101487795B 【授权公告日】2010-08-18 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01N21/64 【发明人】马永梅; 李丽坤; 官建国 【主权项内容】一种表征具有介孔的无机材料表面修饰状况的方法，其特征是，该方法包括以下步骤：1).将荧光素置于容器中，加入去离子水，然后将该容器放置于磁力搅拌器上；2).将未处理的具有介孔的无机材料或经高分子表面修饰剂修饰后的具有介孔的无机材料置于步骤1)的容器中；得到荧光标记后的未处理的具有介孔的无机材料悬浮液或荧光标记后的经高分子表面修饰剂修饰后的具有介孔的无机材料悬浮液，磁力搅拌；悬浮液过滤后反复清洗再过滤，得到荧光标记后的未处理的具有介孔的无机材料或荧光标记后的经高分子表面修饰剂修饰后的具有介孔的无机材料；3).将步骤2)得到的荧光标记后的未处理的具有介孔的无机材料或荧光标记后的经高分子表面修饰剂修饰后的具有介孔的无机材料干燥后溶于水中超声分散；4).将步骤3)得到荧光标记后的未处理的具有介孔的无机材料悬浮液或荧光标记后的经高分子表面修饰剂修饰后的具有介孔的无机材料悬浮液于玻璃片上涂膜后用光照射，通过荧光显微镜观察反射荧光的强弱。 【当前权利人】中国科学院化学研究所 【当前专利权人地址】北京市海淀区中关村北一街2号 【统一社会信用代码】12100000400012238A 【引证次数】5.0 【他引次数】5.0 【家族引证次数】5.0 【家族被引证次数】2
