【摘要】 本发明涉及一种发光寿命的测量方法，适用于光致发光、各类电场诱导的发光的真实寿命和可以光激发的非发光系统的时间分辨。该方法是在保持发光器件驱动电压不变的条件下，测量出不同频率下发光强度，画出亮度-频率曲线，从曲线上找出回折点，这个回折点所对应的频率和真实寿命之间有： T = 1 2 f 0 [ 1 - Γ ] 其中：T是真实寿命，Г是激发脉冲的占空比，f0是回折点所对应的频率。所述的保持发光器件驱动功率不变的条件是指光源发光光强不变、场致发光、p-n结发光中驱动电压不变，可在各自情况中取任意固定值。 【专利类型】发明授权 【申请人】北京交通大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100044 北京市海淀区西直门外上园村3号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810117043.2 【申请日】2008-07-23 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101315331B 【公开公告日】2010-07-21 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101315331B 【授权公告日】2010-07-21 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01N21/62 【发明人】徐征; 张福俊; 赵谡玲; 冀国蕊; 徐叙瑢 【主权项内容】1.一种发光真实寿命的测量方法，其特征在于：在保持发光器件激发功率不变的条件下，测量出不同频率下发光强度，测量发光强度随激发频率的变化曲线，在高频端出现的回折点，这个回折点所对应的频率和真实寿命之间有： 其中：T是真实寿命，Γ是激发脉冲的占空比，f0是回折点所对应的频率； 发光真实寿命是发光从初始强度B0降至衰减末梢的时间，它是一个直观、真实、符合寿命文字涵义的物理量。 【当前权利人】北京交通大学 【当前专利权人地址】北京市海淀区西直门外上园村3号 【统一社会信用代码】1210000040088209X1 【家族被引证次数】6
