【摘要】 本发明公开了一种基于光栅的滚转角测量方法与装置，属于光电检测技术领域。激光器发出激光直接出射，或经过准直透镜准直后出射；该光线直接入射到一维平面透射光栅，或经过逆向反射器反向入射到光栅；经光栅衍射产生的正负一级衍射光经透镜聚焦成两衍射光点，用光电探测器探测两聚焦光点的位置变化计算获得滚转角的值。本发明光学结构简单紧凑，便于实际操作，精度、稳定性及经济性均能兼顾。采用光栅作为敏感器件，利用衍射双光束差动测量，实现了误差分离，增强了抗干扰能力；使用光学器件少，光源功率低，成本低廉；移动部分可不带电缆；测角分辨率可达0.5”甚至更高，仅需更换不同线数的光栅便可满足不同测量精度的要求。 【专利类型】发明授权 【申请人】北京交通大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100044 北京市海淀区西直门外上园村3号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810118863.3 【申请日】2008-08-26 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101339012B 【公开公告日】2010-04-07 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101339012B 【授权公告日】2010-04-07 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01B11/26 【发明人】冯其波; 翟玉生; 张斌 【主权项内容】一种基于光栅的滚转角测量方法，包括以下步骤：步骤一，由激光器(1)发出的激光经过准直透镜(2)准直后出射；步骤二，该光线直接入射到位于测量平台上的一维平面透射光栅(4)，或经过测量平台上的逆向反射器(3)反向入射到同一测量平台上的一维平面透射光栅(4)；步骤三，经光栅(4)衍射产生正负一级衍射光；步骤四，正负一级衍射光经透镜(5)聚焦成两衍射光点；步骤五，当测量平台发生滚转时，用光电探测器(6)探测两聚焦光点的位置变化，经过信号处理电路(7)后送入计算机(8)计算获得滚转角的值。 【当前权利人】北京交通大学 【当前专利权人地址】北京市海淀区西直门外上园村3号 【统一社会信用代码】1210000040088209X1 【引证次数】8.0 【被引证次数】8 【自引次数】1.0 【他引次数】7.0 【被他引次数】8.0 【家族引证次数】8.0 【家族被引证次数】44
