【摘要】 本发明公开一种RFID标签天线一致性的基准测试系统及方法，由水平导轨、导轨滑块、滑块控制器、待测标签支架、天线支架、测试天线、RFID信号仿真器、控制台组成，通过测量同一款RFID标签的若干样本在不同参考距离点下的接收信号强度值而得到一组关于距离——接收信号强度的曲线，并通过统计多个样本的标准差之和来评估RFID标签在加工过程中产生的一致性及稳定性问题，从而为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。 【专利类型】发明申请 【申请人】中国科学院自动化研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】100080 北京市海淀区中关村东路95号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810239329.8 【申请日】2008-12-10 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101750552A 【公开公告日】2010-06-23 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101750552B 【授权公告日】2011-12-07 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】G01R31/00; G06K7/00 【发明人】刘禹; 赵健; 关强; 曾隽芳 【主权项内容】一种RFID标签天线一致性的基准测试系统，其特征在于：包括水平导轨(1)、导轨滑块(2)、滑块控制器(3)、待测标签支架(4)、天线支架(5)、测试天线(6)、RFID信号仿真器(7)、控制台(8)，其中水平导轨(1)置于标准测试环境的水平地面上，导轨滑块(2)与水平导轨(1)机械相连，由滑块控制器(3)通过预先设定的程序驱动导轨滑块(2)沿着导轨方向运动，滑块控制器(3)与控制台(8)通过数据线连接，待测标签支架(4)置于导轨滑块(2)上方，测试天线(6)通过天线支架(5)固定于水平导轨(1)的一端，与RFID信号仿真器(7)通过射频馈线相连，用于发送和接收RFID射频信号，RFID信号仿真器(7)与控制台(8)通过数据线相连，发送测试数据并在控制台(8)上汇总计算及图形化显示测试结果。 【当前权利人】中国科学院自动化研究所 【当前专利权人地址】北京市海淀区中关村东路95号 【统一社会信用代码】12100000400010945B 【被引证次数】17 【被他引次数】17.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】17
