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高导热微波衰减器材料及其制备方法专利

发布时间:2026-06-14

【摘要】 本发明涉及一种微波衰减器材料及制备方法,特别涉及一种应用于真空条件下的绿色环保微波衰减器材料及制备技术,属于微波电子真空技术领域。本发明的高导热微波衰减器材料,包括金属相Mo或W:1.65~2.01vol.%(磁控溅射镀膜);介质相AlN:93~96vol.%;烧结助剂CaF2:2~5vol.%。本发明的微波衰减器材料导热率高、气孔率低、机械强度高、均匀性及一致性高且无毒、无污染,此材料可以满足在较宽频段内,至少有20dB的反射衰减量。 【专利类型】发明申请 【申请人】北京有色金属研究总院 【申请人类型】企业 【申请人地址】100088 北京市海淀区新街口外大街2号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810227383.0 【申请日】2008-11-27 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101734922A 【公开公告日】2010-06-16 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101734922B 【授权公告日】2012-07-25 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】C04B35/581; C04B41/88; H01P1/22 【发明人】杨志民; 董桂霞; 马书旺; 杜军; 毛昌辉 【主权项内容】一种高导热微波衰减器材料,其特征在于:包括金属相Mo或W:1.65~2.01vol.%;介质相AlN:93~96vol.%;烧结助剂CaF2:2~5vol.%。 【当前权利人】有研工程技术研究院有限公司 【当前专利权人地址】北京市怀柔区雁栖经济开发区兴科东大街11号 【被引证次数】8 【被自引次数】1.0 【被他引次数】7.0 【家族引证次数】1.0 【家族被引证次数】8

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  • 【摘要】一种直接在SiO2介电层上制备并五苯薄膜晶体管的方法,包括:在衬底层上制备栅电极;在栅电极上制备SiO2介电层;在SiO2介电层上制备并五苯薄膜;和在并五苯薄膜上分别制备源电极和漏电极;在SiO2介电层上制备并五苯薄膜的步骤为:先用
  • 【摘要】本发明公开了一种数字图像分辨率增强的方法及系统,以解决现 有视频图像分辨率低,影响图像进一步处理和分析的问题。所述方法 包括:图像插值,对低分辨率图像的亮度图进行最近邻插值;改进贝 叶斯图像插值模型;插值校正,用改进的贝叶斯图像插值