【摘要】 一种检测大口径抛物面镜K值系数的装置，其特征在于：包括测角仪、标准平面反射镜、校准平面反射镜、标准球面反射镜、平移台、二维旋转调节架；检测时，测角仪发出平行光束，经标准平面反射镜和被测大口径抛物面镜反射后，到达标准球面反射镜，反射后沿原光路返回，再次经过被测大口径抛物面镜和标准平面反射镜后回到测角仪，这样测角仪就能测出发出平行光束和返回平行光束之间的角度差，根据不同位置采样检测得到的角度差值，可以拟合出被测大口径抛物面镜的K值系数；本发明采用采样检测和角度测量使K值误差转换为角度误差的形式，为大口径抛物面面形加工提供准确的指导信息。 【专利类型】发明授权 【申请人】中国科学院光电技术研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】610209 四川省双流350信箱 【申请人地区】中国 【申请人城市】成都市 【申请人区县】双流区 【申请号】CN200810119127.X 【申请日】2008-08-27 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101339008B 【公开公告日】2010-06-02 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101339008B 【授权公告日】2010-06-02 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01B11/24; G01M11/02 【发明人】杨伟; 章明; 吴时彬; 古斌; 伍凡 【主权项内容】一种检测大口径抛物面镜K值系数的装置，其特征在于：包括测角仪(1)、标准平面反射镜(2)、校准平面反射镜(3)、标准球面反射镜(4)、平移台(5)、二维旋转调节架(6)；测角仪(1)能输出一定口径的标准平行光束，经检测光路后，返回到测角仪(1)，测得标准平行光束往返夹角；标准平面反射镜(2)通过二维旋转调节架(6)安装在平移台(5)上能作平移运动；标准球面反射镜(4)的球心位置需要调节到与被测大口径抛物面镜的焦点位置重合；检测时，测角仪(1)发出平行光束，经过标准平面反射镜(2)和被测大口径抛物面镜反射后，到达标准球面反射镜(4)，反射后沿原光路返回，再次经过被测大口径抛物面镜和标准平面反射镜(2)后回到测角仪(1)，这样测角仪(1)就能测出发出平行光束和返回平行光束之间的角度差，根据不同位置采样检测得到的角度差值，可以拟合出被测大口径抛物面镜的K值系数。 【当前权利人】中国科学院光电技术研究所 【当前专利权人地址】四川省双流350信箱 【统一社会信用代码】12100000450811820A 【引证次数】9.0 【被引证次数】2 【自引次数】2.0 【他引次数】7.0 【被自引次数】2.0 【家族引证次数】9.0 【家族被引证次数】11
