【摘要】 本发明提供一种决定存储器模块控制信号的品质参数的方法及其电子装置，其中电子装置至少包括中央处理单元以及存储器模块，且存储器模块包括多个品质参数并工作于第一频率。方法包括下列步骤：执行中央处理单元超频程序，以得到可正常工作的最高中央处理单元频率；调整一个品质参数，并针对品质参数调整后的系统执行一存储器测试，以得到品质参数的上限值与下限值，进而决定出信号品质参数的最佳值。。 【专利类型】发明申请 【申请人】华硕电脑股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾台北市北投区立德路150号4楼 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810178377.0 【申请日】2008-11-27 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101739062A 【公开公告日】2010-06-16 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101739062B 【授权公告日】2012-09-26 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G06F1/08; G06F11/00 【发明人】简志升 【主权项内容】 。一种决定存储器模块的控制信号的品质参数的方法，适用于电子装置，其中上述电子装置至少包括中央处理单元以及包括多个品质参数并工作于第一频率的存储器模块，其特征是，上述方法包括下列步骤：执行中央处理单元超频程序，以得到可正常工作的最高中央处理单元频率，其中上述中央处理单元超频程序用以调整上述中央处理单元的频率；将上述中央处理单元的频率调整至上述最高中央处理单元频率，致使上述存储器模块工作于第二频率，其中上述第二频率高于上述第一频率；调整至少一个上述品质参数，并针对品质参数调整后的系统执行存储器测试，以得到上述品质参数的上限值与下限值；以及利用上述品质参数的上述上限值与上述下限值，决定出上述品质参数的最佳值。 【当前权利人】华硕电脑股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾台北市北投区立德路150号4楼 【家族引证次数】4.0
