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玻璃基板的激光切割方法专利

发布时间:2026-06-20

【摘要】 本发明公开了一种玻璃基板的激光切割方法,该方法包含定义玻璃基板的第一切割道与第二切割道,其中第一切割道的第一切割方向与第二切割道的第二切割方向实质上垂直。接着在玻璃基板的边缘形成对应于第一切割道的第一起始缺口,以及在每一个第二切割道沿着第二切割方向进入第一切割道的交会处,分别形成第二起始缺口,第二起始缺口的缺口方向与第二切割方向相同。 【专利类型】发明授权 【申请人】友达光电股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾新竹市 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810080514.7 【申请日】2008-02-20 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101234850B 【公开公告日】2010-12-08 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101234850B 【授权公告日】2010-12-08 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】C03B33/09 【发明人】叶丽雅; 王书志 【主权项内容】一种玻璃基板的激光切割方法,包含:定义玻璃基板的多个第一切割道与多个第二切割道,其中所述第一切割道的第一切割方向与所述第二切割道的第二切割方向实质上垂直;在该玻璃基板的一边缘形成多个第一起始缺口,其中所述第一起始缺口的位置与所述第一切割道相对应,所述第一起始缺口的缺口方向与该第一切割方向相同;以及在各所述第二切割道沿着该第二切割方向进入所述第一切割道的交会处,分别形成第二起始缺口,所述第二起始缺口的缺口方向与该第二切割方向相同。 【当前权利人】友达光电股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾新竹市 【引证次数】3.0 【他引次数】3.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】1

  • 【摘要】本发明是披露一种对准标记及缺陷检测方法。该缺陷检测方法首先利用一第一缺陷检测系统对一晶片进行一第一缺陷检测步骤,晶片上具有至少一对准标记,第一缺陷检测步骤另包含对准该对准标记,且对准标记为第一缺陷检测步骤的参考点(reference
  • 【专利类型】外观设计【申请人】捷创电子股份有限公司【申请人类型】企业【申请人地址】中国台湾台北县【申请人地区】中国【申请人城市】台湾省【申请号】CN200830262311.0【申请日】2008-11-26【申请年份】2008【公开公告号】
  • 【摘要】本发明是有关于一种检测装置及其方法,用以检测一印刷电路,其具有至少一电子元件,其中该电子元件为主动元件、被动元件或线路。该检测装置包含:一感测器,配置于该电子元件上方;一电源,用以提供电力至该印刷电路,藉以启动该印刷电路;以及一测量
  • 【摘要】本发明一种滑动机构系安装于一呈中空板柱状的一轨道上,并可沿该轨道上的一沟槽滑动移位,其系包括:一宽度略大于该沟槽、并设置于其下方部位的第一板件,于该板件上预设有成对的二组穿置孔洞;一依照该轨道的外框形态、并跨放于该轨道外部的第二板件
  • 【摘要】本发明是一种杀虫或及干扰虫的光照射装置,其包含至少一个发光二极管, 所述发光二极管可以产生一种以上集中在一脉宽的窄波段非平行集束光,其中所述 集束光的波长介于584nm~618nm,频率514THz~485THz,光发散角度在45度
  • 【摘要】具有式(I)结构的含磷化合物:式中,R1、R2、R3和R4为相同或不同,且R1、R2、R3和R4独立选自氢原子、卤素、C1-C8烷基、卤烷基或烷氧基。该含磷化合物利用双酚基团与磷原子键合,避免含磷杂环化合物分子对羟基官能基的立体障碍