【摘要】 本发明提供了一种检测基板上信号线缺陷的驱动电路及使用该驱动电路的检测方法，其中该驱动电路包含多个移位暂存器、多个二极管模块，以及至少一电源供应器。每一移位暂存器包含一输出端口，用来依序输出一驱动信号。多个二极管模块分别耦接于对应的移位暂存器的输出端口。电源供应器耦接于二极管模块，其中在检测信号线缺陷的一周期内，电源供应器在一时间区间内提供一偏压以旁路移位暂存器。该方法包含检测基板上是否有信号线缺陷；提供一偏压至二极管模块以旁路该移位暂存器；以及检测该信号线缺陷的位置。本发明能提升生产合格率，同时有效减少生产资源的浪费。 【专利类型】发明授权 【申请人】友达光电股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾新竹市 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810190354.1 【申请日】2008-12-31 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101488310B 【公开公告日】2010-09-08 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101488310B 【授权公告日】2010-09-08 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G09G3/20; G09G3/36; G01R31/00 【发明人】陈治平 【主权项内容】一种检测包含一像素阵列的一显示基板上信号线缺陷的驱动电路，包含：多个移位暂存器，每一移位暂存器包含一输出端口，用来依序输出一驱动信号；多个二极管模块，每一个二极管模块包含一输入端和一输出端，所述多个二极管模块的输出端分别耦接于所述多个移位暂存器的输出端口；以及至少一电源供应器，耦接于所述多个二极管模块的输入端，其中在检测信号线缺陷的一周期内，该电源供应器在该周期的一部分时间内提供一正向偏压以旁路所述多个移位暂存器。 【当前权利人】光电科学有限责任公司 【被引证次数】2 【被他引次数】2.0 【家族引证次数】13.0 【家族被引证次数】73
