【摘要】 本发明涉及一种液晶单元的光学特性测量系统及其方法，系统包含发出一个具有多波长的发射光的光源、一个用于将该发射光转换为投射于该待测件的偏振光束的投光探头、一个具有第二穿透轴且用于分析从该偏振光束穿透该待测件后而产生的偏振光束的偏振态的收光探头、一用于获取该偏振光束的光谱信号的光谱仪，以及一用于以多个该光谱信号及与各该光谱信号相对应的多个转动角度计算该待测件的光轴方位角度及/或相位差分布的信号分析单元。 【专利类型】发明申请 【申请人】财团法人工业技术研究院 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】中国台湾新竹县 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810187833.8 【申请日】2008-12-23 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101762891A 【公开公告日】2010-06-30 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101762891B 【授权公告日】2011-12-28 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】G02F1/13; G01M11/02 【发明人】刘志祥; 庄凯评; 林友崧 【主权项内容】一种液晶单元的光学特性测量系统，用于测量一待测件的光学特性，该光学特性测量系统包含：一光源，发出一具有多波长的发射光；一投光探头，具有一第一穿透轴，用于将该发射光转换为一投射于该待测件的偏振光束；一收光探头，具有一第二穿透轴，用于分析从该偏振光束穿透该待测件后而产生的一偏振光束的偏振态，其中该第一穿透轴与该第二穿透轴间具一相对角度；一光谱仪，用于获取该偏振光束的一光谱信号，其中该收光探头耦接于该光谱仪；以及一信号分析单元，用于以多个该光谱信号及与各该光谱信号相对应的多个转动角度计算该待测件的一光轴方位角度及/或一相位差分布，其中各该光谱信号是将该投光探头与该收光探头在该转动角度转动后测量而得。 【当前权利人】财团法人工业技术研究院 【当前专利权人地址】中国台湾新竹县 【引证次数】1.0 【被引证次数】5 【他引次数】1.0 【被他引次数】5.0 【家族引证次数】4.0 【家族被引证次数】5
