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免保护膜的光学集光组件专利

发布时间:2026-06-20

【摘要】 本发明公开了一种免保护膜的光学集光组件,其包含:(a)基材;(b)位于基材一侧的第一表面,所述第一表面具有聚光结构;及(c)位于基材另一侧的第二表面,其中所述第一表面和第二表面间的最大静摩擦系数,根据JIS K7125标准方法测量,介于0.3至0.7之间。本发明集光组件抗刮性佳,在制造及使用过程不会产生刮伤,因此可省去使用贴附保护膜的成本。 【专利类型】发明授权 【申请人】长兴化学工业股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾高雄市三民区建工路578号 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810182741.0 【申请日】2008-12-04 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101414019B 【公开公告日】2010-07-14 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101414019B 【授权公告日】2010-07-14 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G02B5/02; G02B5/00; G02F1/13357; G02B1/10 【发明人】林博文; 胡瑞楷 【主权项内容】1.一种免保护膜的光学集光组件,其特征在于:包含:(a)基材; (b)位于基材一侧的第一表面,所述第一表面具有聚光结构,所述聚光结构是在基材一侧涂布第一胶液后经固化而形成;及 (c)位于基材另一侧的第二表面,所述第二表面是基材原膜的一表面或在基材相对于聚光结构的另一侧涂布第二胶液固化而形成一涂层, 其中所述第一胶液和第二胶液各自包含至少一种选自由紫外线固化树脂、热固性树脂、热塑性树脂及其混合物所构成群组的树脂,其中所述第一表面和第二表面间的最大静摩擦系数,根据JIS?K7125标准方法测量,介于0.3至0.7之间,并且根据JIS?K5400标准方法测量,第一和第二表面至少有一表面铅笔硬度不大于HB。 【当前权利人】长兴材料工业股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾高雄市路竹区后乡里长兴路22号 【家族被引证次数】4

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  • 【摘要】一种壳体的内部设置一光源模块,壳体包括一本体以及一遮蔽层。本体具 有呈镜像设置的一第一透光区域及一第二透光区域以供该光源模块所发出的光 线通过;遮蔽层覆盖第二透光区域,且遮蔽层的透光率具有梯度变化。一种壳 体的制造方法及应用壳体的电
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