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半导体封装结构专利

发布时间:2026-06-18

【摘要】 本发明是一种半导体封装结构,其包含:基板,具有正面及背面,且具有开口 穿透过基板;第一芯片,具有主动面及背面,主动面朝上通过第一黏着层覆盖在开 口,并通过第一黏着层贴附在基板的背面上;第一导线,通过开口电性连接第一芯 片及基板的正面;第二黏着层,包覆第一导线及覆盖在第一芯片的主动面上的焊垫 及基板的部份正面;第二芯片,具有主动面及背面,第二芯片的背面是相对于第一 芯片朝下且主动面朝上,通过第二黏着层贴附在基板的正面上;第二导线,电性连 接第二芯片的主动面及基板的正面;第一封装体,包覆第一芯片、第一黏着层、第 一导线及基板的部份背面;第二封装体,包覆第二芯片、第二黏着层、第二导线及 基板的部份正面;及导电组件,其设置在基板的背面上。 【专利类型】发明申请 【申请人】南茂科技股份有限公司; 百慕达南茂科技股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】台湾省新竹科学工业园区新竹县研发一路一号 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810213649.6 【申请日】2008-08-19 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101656247A 【公开公告日】2010-02-24 【公开公告年份】2010 【发明人】林鸿村; 吴政庭 【主权项内容】1.一种半导体封装结构,包含: 一基板,具有一正面及一背面,且具有一开口穿透过该基板; 一第一芯片,具有一主动面及一背面,且该主动面朝上且通过一第一黏着层 覆盖在该开口上并通过该第一黏着层贴附在该基板的该背面上; 多条第一导线,通过开口电性连接该第一芯片及该基板的该正面; 一第二黏着层,用以包覆这些第一导线及覆盖在该第一芯片的该主动面上的 这些焊垫且形成在该基板的部份正面上; 一第二芯片,具有一主动面及一背面,该第二芯片的该背面是朝下通过该第 二黏着层贴附在该基板的该正面上; 多条第二导线,用以电性连接该第二芯片的该主动面及该基板的该正面; 一第一封装体,用以包覆该第一芯片、该第一黏着层、这些第一导线及部份 该基板的该背面; 一第二封装体,用以包覆该第二芯片、该第二黏着层、这些第二导线及部份 该基板的该正面;及 多个导电组件,设置在该基板的该背面上。 【当前权利人】南茂科技股份有限公司; 百慕达南茂科技股份有限公司 【当前专利权人地址】台湾省新竹科学工业园区新竹县研发一路一号; 百慕大汉米顿 【被引证次数】TRUE 【家族被引证次数】TRUE

  • 【摘要】本发明公开一种化合物半导体元件及光电元件的封装结构及其制造方 法,该封装结构包含具有图案的导电膜层、晶粒、至少一个金属导线或是金 属凸块、及透明封胶材料。该晶粒固定于该导电膜层的第一表面上,并通过 该金属导线或是金属凸块,与该导电膜
  • 【摘要】本发明提供一种半导体制造工艺中去除栅上硬掩模的方法,其执行如下。首先,形成具有硬掩模的第一栅及第二栅于半导体基板上,其中该第二栅大于第一栅。第一栅及第二栅可结合SiGe源极和漏极区而形成p型晶体管。其次,沉积光致抗蚀剂层,且于第二栅
  • 【摘要】该数据由整理 本发明公开了一种交错嵌入式机壳,包括一第一壳体以及一第二壳体。第一 壳体与第二壳体组合成一盖体,其中第一壳体具有一第一表面以及一第一侧边,而 第二壳体具有一第二表面以及一第二侧边。第一表面与第二表面共平面,而第一侧 边
  • 【摘要】本发明揭露一种非接触式量测变形值的量测系统及其方法。此量测系统 包含一升降装置及复数个测距装置。升降装置具有一平台、一或二立柱及一 升降手臂。平台上放置一待测工件,立柱设于平台上,升降手臂可以在立柱 上升降,并载有可抽换的可抽换板。
  • 【摘要】随机存取内存(DRAM)的测试,已经广泛使用于内存模块的生产质量控制作业当中,其中较为先进且逐步导入至内存模块生产测试的项目为高温环境测试,其主要的目的是用来筛选出早期失效不良的制品,以确保产品使用的可靠度与耐受性。本发明公开了一种
  • 【摘要】本发明是一种环境信息应用于宠物养成系统及其方法,其通过主动联机 至环境信息中心,取得环境信息,对环境信息加以分析,并转换为对应的图 像以取代原始图像的技术手段,可以解决进行环境信息查询技术不够可视化、 直觉化的问题,由此可以达成宠物