【摘要】 本发明揭露一种非接触式量测变形值的量测系统及其方法。此量测系统 包含一升降装置及复数个测距装置。升降装置具有一平台、一或二立柱及一 升降手臂。平台上放置一待测工件，立柱设于平台上，升降手臂可以在立柱 上升降，并载有可抽换的可抽换板。而此些测距装置一一设于可抽换板的复 数个预定位置，每一测距装置具有一光束发射单元及一光束接收单元。当进 行量测时，由升降手臂升降可抽换板，使测距装置与待测工件相隔一预定距 离，以由光束发射单元发射光束至待测工件，使光束反射至光束接收单元， 并由测距装置测出距离值，而根据距离值算出待测工件的变形值。 【专利类型】发明申请 【申请人】向熙科技股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】台湾省台北县 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810168048.8 【申请日】2008-09-25 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101685003A 【公开公告日】2010-03-31 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101685003B 【授权公告日】2010-12-08 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01B11/16 【发明人】郑兆希; 胡维彦; 张新民; 李亮宏 【主权项内容】1、一种非接触式量测待测工件变形值的量测系统，其特征在于，至 少包含： 一高度可调节的量测装置，包含一平台，至少一立柱，一升降手臂，一 可抽换板，该可抽换板平行于该平台而由该升降手臂所夹持，该升降手臂可 在该至少一立柱上升降； 复数个测距装置分别设于该可抽换板的预设位置上，每一该测距装置设 有一光束发射单元及一光束接收单元； 当进行平台上一待测工件的变形量测时，以该复数个测距装置量取相同 于该待测工件的参考工件的复数个参考距离值，续而量取该待测工件相应位 置的复数个距离值，比较其差异，量测时，先调整该升降手臂的高度至一默 认值，再以该复数个测距装置的光束发射单元发射光束至该待测工件或该参 考工件，并各自由该复数个测距装置的光束接收单元所接受来进行距离量 测，通过该待测工件及该参考工件距离的比较即可知变形量。。 【当前权利人】向熙科技股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾台北县 【被引证次数】10 【被他引次数】10.0 【家族引证次数】4.0 【家族被引证次数】10
