【摘要】 一种固态储存媒体可靠度的测试方法，固态储存媒体包含多个区块。首先，取得固态储存媒体的各区块的生命周期。测试上述区块的擦除数，并且判断该区块的擦除数是否大于一预定擦除数。将上述各区块中，擦除数大于预定擦除数的区块数加以累加，以产生问题区块数，并输出测试报告。。： 【专利类型】发明申请 【申请人】财团法人工业技术研究院 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】中国台湾新竹县 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810184845.5 【申请日】2008-12-05 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101752008A 【公开公告日】2010-06-23 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101752008B 【授权公告日】2013-07-10 【授权公告年份】2013.0 【IPC分类号】G11C29/00 【发明人】曾文俊 【主权项内容】一种固态储存媒体可靠度的测试方法，其中该固态储存媒体包含多个区块，该固态储存媒体可靠度的测试方法包括：取得该固态储存媒体的各该区块的一生命周期；测试该区块的一擦除数；判断该区块的该擦除数是否大于一预定擦除数；以及将所述区块中，该擦除数大于该预定擦除数的区块数加以累加，以产生一问题区块数，并输出一测试报告。 【当前权利人】建兴储存科技股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾台北市内湖区瑞光路392号12楼 【被引证次数】6 【被他引次数】6.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】6
