【摘要】 本发明一种测量电致自旋荧光的显微测量系统，其特征在于，包括：一显微拉曼光谱仪、一宽波段线偏振片和一宽波段四分之一波片，所述的显微拉曼光谱仪、宽波段线偏振片和宽波段四分之一波片相距一预定距离，且位于同一光路上；一磁体系统；一数字电压源表，该数字电压源表与磁体系统并联；一超长工作距离显微物镜，该超长工作距离显微物镜位于宽波段四分之一波片和磁体系统之间，且在同一光路上。 微信 【专利类型】发明授权 【申请人】中国科学院半导体研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】100083 北京市海淀区清华东路甲35号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810106706.0 【申请日】2008-05-14 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101581672B 【公开公告日】2010-11-03 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101581672B 【授权公告日】2010-11-03 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01N21/66 【发明人】肖文波; 郑厚植; 徐萍; 鲁军; 刘剑; 李桂荣; 谭平恒; 赵建华; 章昊; 朱汇; 甘华东; 李蕴慧; 朱科; 吴昊; 张泉; 袁思芃; 罗晶; 申超; 李科 【主权项内容】一种测量电致自旋荧光的显微测量系统，其特征在于，包括：一显微拉曼光谱仪、一宽波段线偏振片和一宽波段四分之一波片，所述的显微拉曼光谱仪、宽波段线偏振片和宽波段四分之一波片相距一预定距离，且位于同一光路上；一磁体系统；一数字电压源表，该数字电压源表与磁体系统并联；一超长工作距离显微物镜，该超长工作距离显微物镜位于宽波段四分之一波片和磁体系统之间，且在同一光路上；宽波段线偏振片和宽波段四分之一波片光轴之间成45度夹角，使得圆偏振光通过宽波段四分之一波片后的线偏振光可以用宽波段线偏振片检偏。 【当前权利人】中国科学院半导体研究所 【当前专利权人地址】北京市海淀区清华东路甲35号 【统一社会信用代码】12100000400012385U 【引证次数】3.0 【他引次数】3.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】8
