【摘要】 一种基于多次反射的双光束脉冲干涉法，用于实现对于由各种待测参量引起的光相位的高灵敏检测。该方法主要使用单光脉冲(P)进行激励和检测，通过定向耦合器(L)进入到信号臂(L1)和参考臂(L2)，在信号臂和参考臂光路中都分别包含有一个由两个部分光耦合器件组成的光腔，使得光脉冲能够在光腔中进行多次反射，使得微小的待测变化量通过多次作用而进行放大，等效于提高了光纤段的有效长度。从信号臂和参考臂输出的两束脉冲光进行相干检测，得到引起的光相位的变化量，从而进一步提高了系统的测量精度，A，B，C，D为光反射镜，Id为光电探测器。 【专利类型】发明申请 【申请人】北京航空航天大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100191 北京市海淀区学院路37号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810226339.8 【申请日】2008-11-14 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101738215A 【公开公告日】2010-06-16 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101738215B 【授权公告日】2014-01-29 【授权公告年份】2014.0 【IPC分类号】G01D5/26 【发明人】刘建胜; 陈浩宇; 李昕; 郑铮; 王帅; 谭钧戈; 徐晓萍 【主权项内容】一种基于多次反射的双光束脉冲干涉相位检测法。 【当前权利人】北京航空航天大学 【当前专利权人地址】北京市海淀区学院路37号 【统一社会信用代码】12100000400011227Y 【被引证次数】4 【被他引次数】4.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】4
