【摘要】 本发明公开了一种基于大容量图像存储技术的电路板缺陷离线检测方法。该方法包括以下几个步骤：1)使用相机逐区域的拍摄需要检测的电路板，并保存每个局部区域的图像；2)使用图像拼接方法将多个单独区域的图像按其所拍摄区域的位置关系拼接成一幅完整的图像；3)使用离线电路板缺陷检测软件编辑电路板缺陷检测程式；4)使用离线电路板缺陷检测软件检测电路板缺陷。通过以上方法和技术，工程师可以最少的占用PCB生产线上电路板检测设备，在离线状态可以获得联机状态时完全相同的观察景象，从而显著的提高了PCB生产线上电路板检测设备的利用率，减少了制作缺陷检测程式的时间。 【专利类型】发明授权 【申请人】北京优纳科技有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100085 北京市海淀区上地东路9号得实大厦一层北区5号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810116850.2 【申请日】2008-07-18 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101334266B 【公开公告日】2010-07-14 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101334266B 【授权公告日】2010-07-14 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01B11/00 【发明人】郑众喜; 李鹏杰; 刘明星 【主权项内容】一种基于大容量图像存储技术的电路板缺陷离线检测方法，该方法采集实际在线检测状况下的PCB板局部区域图像，通过图像拼接技术将多个局部区域图像拼接成一整幅PCB板图像，并存储在硬盘上，在本地计算机上打开TMAP图像文件编辑、调试用于在线的自动光学检测AOI设备缺陷检测程式，实现对PCB板缺陷离线检测，该电路板缺陷离线检测方法包括步骤：(1)调节自动光学检测AOI设备到检测条件，拍摄待检测PCB板的各局部区域图像，并保存到本地计算机或者网络服务器上；(2)使用图像拼接技术根据拍摄各局部区域图像的物理位置拼接成完整的图像，并使用大容量图像保存格式，保存成一个TMAP图像文件；(3)使用离线自动光学检测AOI设备程式编辑系统打开保存的TMAP图像文件，在本地计算机上编辑缺陷检测程式；(4)使用离线自动光学检测AOI设备程式编辑基于TMAP图像文件调试设计的程式，模拟PCB板的检测。 【当前权利人】苏州优纳科技有限公司 【当前专利权人地址】江苏省苏州市高新区泰山路2号27号厂房西 【专利权人类型】有限责任公司(自然人投资或控股) 【统一社会信用代码】91110108779500729F 【家族被引证次数】17
