【摘要】 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种共焦组合透镜超长焦距测量方法与装置。该方法首先通过共焦定焦原理确定参考透镜焦点位置、被测透镜与参考透镜组合的焦点位置，而后测量两焦点间的距离Δ和两透镜的间距d0，代入公式计算被测透镜的焦距值，测量过程中还可以通过光瞳滤波技术提高焦距测量灵敏度。本发明首次提出利用共焦响应曲线极大值时目标对应显微物镜焦点的特性实现精确定焦，将共焦显微原理扩展到超长焦距测量领域，提出了共焦定焦原理。本发明融合了共焦定焦原理与组合透镜法，具有测量精度高、抗环境干扰能力强的优点，可用于超长焦距透镜的检测与装配过程中的高精度焦距测量。 【专利类型】发明授权 【申请人】北京理工大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100081 北京市海淀区中关村南大街5号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810226967.6 【申请日】2008-11-21 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101408478B 【公开公告日】2010-07-07 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101408478B 【授权公告日】2010-07-07 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01M11/02 【发明人】赵维谦; 邱丽荣; 孙若端; 沙定国 【主权项内容】1.共焦组合透镜超长焦距测量方法，其特征在于： 1)平行光透过分光系统(2)，经参考透镜(5)会聚在焦点位置a(7)，光线再由反射镜(8)反射后，通过分光系统(2)反射进入共焦定焦系统(10)，使反射镜(8)在光轴方向扫描移动，共焦定焦系统(10)通过探测响应信号的极大值点来确定参考透镜(5)相应的焦点位置a(7)； 2)将被测透镜(3)置入分光系统(2)与参考透镜(5)之间，并与参考透镜(5)共轴，再次利用共焦定焦系统(10)，通过探测响应信号的极大值点来确定因置入被测透镜(3)而引起的新的焦点位置b(9)； 3)测量焦点位置a(7)与焦点位置b(9)之间的距离Δ(6)； 4)测量被测透镜(3)与参考透镜(5)的间距d0(4)； 5)由下式计算被测透镜(3)与参考透镜(5)的主平面间距d： 6)已知参数包括被测透镜(3)的厚度b1、折射率n1、曲率半径r11、r12，参考透镜(5)的焦距f2′、厚度b2、折射率n2、曲率半径r21、r22；由下式计算被测透镜(3)的焦距值： 【当前权利人】北京理工大学 【当前专利权人地址】北京市海淀区中关村南大街5号 【统一社会信用代码】12100000400009127B 【引证次数】2.0 【被引证次数】5 【他引次数】2.0 【被自引次数】4.0 【被他引次数】1.0 【家族引证次数】2.0 【家族被引证次数】20
