【摘要】 公开了一种在高能双能CT系统中的图像重建方法，包括步骤： 利用高能双能射线扫描物体，以获得高能双能投影值；根据预先创建 的查找表或者通过解析求解方程组的方法，计算双能投影值对应的基 材料系数投影值；基于基材料的投影值，得到基材料系数的分布图像。 解决了高能下双能重建的问题，提供了更为有效的物质识别和违禁品 检查手段，大大提高了安全检查的精度和效率。 【专利类型】发明申请 【申请人】清华大学; 同方威视技术股份有限公司 【申请人类型】企业,学校 【申请人地址】100084北京市海淀区清华大学 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810118304.2 【申请日】2008-08-13 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101647706A 【公开公告日】2010-02-17 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101647706B 【授权公告日】2012-05-30 【授权公告年份】2012.0 【发明人】张丽; 陈志强; 康克军; 胡海峰; 邢宇翔; 段新辉; 李元景; 刘以农; 黄清萍 【主权项内容】1、一种在高能双能CT系统中的图像重建方法，包括步骤： 利用高能双能射线扫描物体，以获得高能双能投影值； 根据预先创建的查找表或者通过解析求解方程组的方法，计算双 能投影值对应的基材料系数投影值； 基于基材料的投影值，得到基材料系数的分布图像。 【当前权利人】清华大学; 同方威视技术股份有限公司 【当前专利权人地址】北京市海淀区清华大学; 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 【专利权人类型】公立; 其他股份有限公司(非上市) 【统一社会信用代码】12100000400000624D; 91110108710927548B 【被引证次数】TRUE 【家族被引证次数】TRUE
