【摘要】 本发明公开了一种基于光纤和纳米操纵器的纳米材料光学表征方法及其系统，属于纳米材料光学表征和纳光电子器件测试领域。本发明的方法为通过光纤探头和纳米操纵器结合实现将纳米材料的发光从发光局域导入光分析仪器，或者将光源发光导入纳米材料局域的方法，本发明的系统包括显微镜、光分析仪和/或光源、纳米操纵器、光纤探头、样品台和/或探针；本发明的方法具有角度分辨能力；该系统对选定的微区进行光激励或光分析，占用空间小、具有较大的灵活性；同时该系统可以与多种显微、表征手段结合形成纳米材料和器件的综合测试平台。 【专利类型】发明授权 【申请人】北京大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100871 北京市海淀区颐和园路5号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810106087.5 【申请日】2008-05-08 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101299024B 【公开公告日】2010-09-08 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101299024B 【授权公告日】2010-09-08 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01N21/63; G01N33/00 【发明人】高旻; 彭练矛; 陈清; 李成垚; 丁晨; 张立欢; 赖嘉霖 【主权项内容】一种基于光纤和纳米操纵器的纳米材料光学表征方法，其步骤为：1)将样品放入显微镜观测区内；2)将光纤探头安装在纳米操纵器上；所述将光纤探头安装在纳米操纵器上的具体方法为：首先将所述光纤探头粘在一小段金属管中，然后用一小段金属丝连接所述金属管与所述纳米操纵器；3)操纵纳米操纵器，使光纤探头接近样品；4)通过光纤探头对样品进行光激发或光接收。 【当前权利人】北京大学 【当前专利权人地址】北京市海淀区颐和园路5号 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】12100000400002259P 【家族被引证次数】21
